CN120088264A 基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法 （苏州高擎三炬精密科技有限公司）.docxVIP

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN120088264A

(43)申请公布日2025.06.03

(21)申请号202510580427.1

(22)申请日2025.05.07

(71)申请人苏州高擎三炬精密科技有限公司

地址215500江苏省苏州市常熟市沙家浜

镇久隆路7号13幢

(72)发明人高亮卫秀娟

(74)专利代理机构苏州诚逸知识产权代理事务所(特殊普通合伙)32313

专利代理师徐超群

(51)Int.Cl.

G06T7/00(2017.01)

G06T7/11(2017.01)

G06T7/12(2017.01)

G06T7/90(2017.01)

G06T5/70(2024.01)

G06V10/762(2022.01)

权利要求书2页说明书7页附图2页

(54)发明名称

基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面

缺陷检测方法

(57)摘要

本发明涉及缺陷检测技术领域，具体涉及一种基于图像处理的半导体陶瓷复合材料表面缺陷检测方法；根据目标边缘中相邻边缘像素点的梯度差异特征获得局部梯度大小差异值和局部梯度方向差异值；根据局部梯度大小差异值和局

CN120088264A部梯度方向差异值的分布特征获得边缘平滑特征值；根据任意两个目标边缘的边缘平滑特征值获得平滑差异度；根据平