CN119596015A 紧缩场测量系统的静区幅相性能测量方法 (深圳市通用测试系统有限公司).pdfVIP

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  • 2026-07-22 发布于重庆
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CN119596015A 紧缩场测量系统的静区幅相性能测量方法 (深圳市通用测试系统有限公司).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119596015A

(43)申请公布日2025.03.11

(21)申请号202411766510.X

(22)申请日2024.12.04

(71)申请人深圳市通用测试系统有限公司

地址518100广东省深圳市宝安区西乡街

道铁岗社区桃花源科技创新生态园B5

栋三层

(72)发明人沈鹏辉刘铮罗庆春

(74)专利代理机构北京超凡宏宇知识产权代理

有限公司11463

专利代理师安卫静

(51)Int.Cl.

G01R29/10(2006.01)

G01R29/08(2006.01)

权利要求书

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