- 1
- 0
- 约2.51万字
- 约 31页
- 2026-08-21 发布于重庆
- 举报
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN119153507A
(43)申请公布日2024.12.17
(21)申请号202411650131.4
(22)申请日2024.11.19
(71)申请人深圳平湖实验室
地址518116广东省深圳市龙岗区平湖街
道中科亿方智汇产业园12栋
(72)发明人夏云万玉喜陈刚曾威刘玮
罗曦溪
(74)专利代理机构北京同达信恒知识产权代理
有限公司11291
专利代理师张春玲
(51)Int.Cl.
H01L29/739(2006.01)
H01L29/06(2006.01)
H01L29/08(2006.01)
H01L21
您可能关注的文档
- CN119154642A 一种电源变换器远程控制方法、装置、系统、设备及产品 (北京迪赛奇正科技有限公司).pdf
- CN119154603A 一种永磁同步电机转子的多极充磁方法 (浙江永昌电气股份有限公司).pdf
- CN119154589A 一种低压大电流的直流式永磁同步伺服电机及使用方法 (杭州纳智电机有限公司).pdf
- CN119154582A 带有错极转子结构的交流永磁同步伺服电机及使用方法 (杭州纳智电机有限公司).pdf
- CN119154519A 智能开关柜的运维管理方法、装置、存储介质及电子设备 (北京北方永达智能电气有限公司).pdf
- CN119154473A 一种自主供电式氢燃料电池测试台能量管理装置及方法 (武汉海亿新能源科技有限公司).pdf
- CN119154462A 一种电容型电池主动均衡电路及其方法 (深圳市鑫飞宏电子有限公司).pdf
- CN119154417A 用于智能并网柜的双向逆变器能量转换方法及系统 (湖南西来客储能科技有限公司).pdf
- CN119154410A 基于时序特征的新能源消纳边界识别方法及系统 (国网浙江省电力有限公司经济技术研究院).pdf
- CN119154409A 配电网分布式光伏调控方法、装置、终端设备及存储介质 (广东电网有限责任公司).pdf
- CN119153446A 半导体结构及其制备方法 (粤芯半导体技术股份有限公司).pdf
- CN119153368A 一种用于半导体制造的片上片下晶圆测温装置 (中国计量科学研究院).pdf
- CN119153352A 抛光过程中测量晶圆金属薄膜厚度的方法、装置、抛光设备和存储介质 (华海清科股份有限公司).pdf
- CN119153351A 金属膜厚度测量方法、装置、设备、抛光方法和存储介质 (华海清科股份有限公司).pdf
- CN119153320A 半导体器件及其制作方法 (合肥晶合集成电路股份有限公司).pdf
- CN119153221A 电抗器隔振系统的振动分析方法、程序产品和电子设备 (广东电网有限责任公司中山供电局).pdf
- CN119153208A 一种高耐压一体成型电感及其制备方法 (深圳市百斯特电子有限公司).pdf
- CN119153164A 一种超导同轴电缆及其制备方法 (嘉兴翼波电子有限公司).pdf
- CN119153127A 感染性疾病数据智能编码方法、装置、计算机设备及存储介质 (杭州杏林信息科技有限公司).pdf
- CN119153105A 多点触发生物安全监测方法、装置、计算机设备及存储介质 (杭州杏林信息科技有限公司).pdf
原创力文档

文档评论(0)