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光学自由曲面与复杂曲面的波前干涉测量技术发展趋势

摘要

本报告聚焦于光学自由曲面与复杂曲面检测领域，系统研判波前干涉测量技术在2024至2028年间的发展趋势，重点探讨计算全息（CGH）与拼接干涉仪在超精密光学元件检测中的应用前景。

核心判断表明，至2028年，CGH辅助干涉检测的基准精度将突破纳米级门槛，达到0.8nmRMS，而拼接干涉技术将实现亚微米级的面形重构精度，约为0.2μmPV。

报告遵循“环境驱动→现状锚定→趋势研判→演进推演→量化预测→影响评估→战略建议”的逻辑链条。首先，从宏观政策、技术迭代与产业需求角度，剖析了技术发展的底层驱动力。其次，基于当前市