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面向Chiplet异构集成系统的功能测试与内建自测试策略的分工与测试机台需求

全局数据规范：全篇所有量化数据须标注来源与时间口径；历史数据须真实可溯，预测性数据须注明推断依据与关键假设；多采用表格呈现数据与对比信息。

本报告说明

随着摩尔定律逼近物理极限，Chiplet（芯粒）异构集成技术已成为延续半导体性能提升的关键路径。本报告聚焦基于UCIe（UniversalChipletInterconnectExpress）与BoW（BunchofWires）互联标准的Chiplet测试领域，深度剖析功能测试与内建自测试（BIST）的协同分工，以及由此衍生的测试机台在数字