直拉硅中八面体空位缺陷研究进展.pdf

10八面体空位在直拉硅中

ITSUMI

MANABU

NTT生活与环境技术,三之宮若宫3-1,厚木市,神奈川县,

243-0198

10.1

背景

在过去20年中,对于拉制单晶硅(CZ‑Si)生长的研究取得了若干突破

(图10.1)。从1979年到1982年,有关CZ‑Si中存在的氧化的报告陆续出现

(Nakajima

等.

1979,Itsumi

等.

1980,Itsumi和Kiyosumi

1982),不久之

后,人们提出可以通过牺牲氧化(

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档