半导体器件物理 课件 第4章 MOSFET基本结构和特性.pptx

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半导体器件物理;;4.1MOS结构的C-V特性;4.1MOS结构的C-V特性;;;平带;费米势:表示半导体内部本征能级Ei与费米能级EF之差。;电荷分布:;N型衬底MOS电容能带图:;C-V曲线测量是在直流偏置上叠加一交流小信号(≤20mV)进行。;对于金属-氧化物-半导体三种材料接触在一起的MOS结构,它们的功函数差仅由金属和半导体决定。;不同栅电极材料的功函数差与衬底浓度的关系;Qit:处于SiO2-Si界面处,其能级位于Si禁带中的陷阱通过俘获或发射电子(或空穴)引起的电荷;平带电压:恢复半导体表面能带到平直状态所需加的栅电

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