CN119354742A 基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法 (武汉大学).pdfVIP

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  • 2026-11-09 发布于重庆
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CN119354742A 基于光学测量技术的颗粒材料细观力学试验平台及方法 (武汉大学).pdf

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN119354742A

(43)申请公布日2025.01.24

(21)申请号202411416818.1G01L1/24(2006.01)

(22)申请日2024.10.11

(71)申请人武汉大学

地址430072湖北省武汉市武昌区八一路

299号

(72)发明人马刚曹万达梅江洲王頔

周伟

(74)专利代理机构南京纵横知识产权代理有限

公司32224

专利代理师徐瑛

(51)Int.Cl.

G01N3/24(2006.01)

G01N3/02(2006.01)

G01N3/06(20

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