射线探伤方法及其应用.docVIP

电力系统高级人员探伤讲义 三：射线探伤方法及其应用，工艺的编制与优化 主讲人：李伟 2004.8.于北戴河 1.透照工艺条件的选择 2.工艺卡的编制 3.综合题的解析 4.底片评定的一次性规定 5.口试中应注意的问题 3.1.透照工艺条件的选择 射线透照工艺是指为达到一定要求而对射线透照过程规定的方法、程序、技术参数和技术措施。 工艺条件是指工艺过程中的有关参数变量及其组合。射线透照工艺条件包括；设备器材条件，透照几何条件，工艺参数条件和工艺措施条件等。下面将主要介绍工艺条件对射线照相质量的影响及工艺编制的原则。 3.1.1 .射线源和能量的选择原则 1.射线源的选择原则 射线源的选择原则首先要考滤射线源对被检工件应有足够的穿透力。对X射线来说，穿透力取决于管电压。管电压越高射线的线质越硬，在试件中的衰减系数越小，穿透厚度越大。例如100KV的 X射线高灵敏度法最大穿透力为10 mm，射线低灵敏度法最大穿透力为25 mm。 对于r射线来说，穿透力取决于射源的种类，常用的r射线源适用的透照范围Ir192 20mm-80mm（高灵敏度），6-100mm（低灵敏度法），Co60 50-150mm（高灵敏度）30-200mm（低灵敏度法）。由于放射性同位素的能量不能该变，所以不仅规定了透照厚度的上限，同时规定了透照厚度的下限。 选择射线源时必须注意到X射线和r射线照相灵敏度的差异。由工艺基础理论得知，对比度 (D，不清晰度U和颗粒度 (D是左右射线影象质量的三大要素，现以Ir192为例与X射线相比较对着三大要素的影响。我们知道对比度又正比于比衬度 Cs, Cs= (/1+n，由图3-1可以看出对45mm以下的钢，用Ir192透照所得射线底片其对比度比X射线底片对比度要差的多。以25mm厚度钢为例前者要比后者的对比度低40%。对比度自然会影响到相质计灵敏度。 另外Ir192的固有不清晰度Ui…值（0.17）比400KV的X射线还大，它分别是100KV、200KV、300KV X射线Ui值的3.4倍,1.8倍,1.4倍。固有不清晰度也会影响到相质计灵敏。 由于Ir192的能量较高由此引起的胶片颗粒性-即胶片噪声也会明显增大，从而干扰薄板射线照相中小缺陷的影响显示。 除了穿透力和灵敏度外，两种设备的不同特点也是需要考虑的因素。 综上所述选择设备的原则应是： （1） 对于轻合金和低密度的材料应选择X射线。 （2） 对于可焊性较差，易出现细小裂纹的材料应选择X射线。 （3） 对于透照厚度小于10mm的工件应选择X射线。 （4） 对于透照厚度在50-100mm的铁素体材料，如方法正确，用X射线和r射线可得到相同的灵敏度。 （5） 对于透照厚度大于10mm的工件，由于受到条件的限制必须使用r射线时应选择T2类或更高类胶片。 （6） 采用周向X光机中心内透法对环焊缝100%照相时，应尽量选择锥靶X光机。 （7） 对于透照厚度大于150mm的工件宜采用高能X射线。 2.X射线能量的选择： X射线的管电压可以调节，因此使用X射线对试件照相时射线能量有多种选则。首先考虑的是足够穿透力，如能量过低穿透力不够，结果是到达底片的透射射线强度不够，造成底片的黑度不足。长时间的曝光还会增加底片的灰雾度。 但是，过高的射线能量对射线照相灵敏度有不利的影响。 (D = 0.434 G(((T/1+n。 (min＝12.4/V (=k·(3·K3 另外，随着射线能量的增加固有不清晰度 Ui增大，底片颗粒度也将增大，其结果是射线照相灵敏度下降。因此，从灵敏度角度考虑X射线能量的选择原则是：在保证穿透力的前提下，应选则能量较低的 X射线。 选择能量较低的射线可以获得较高的对比度，但较高的对比度却意味着较低的透照厚度宽容度，很小的厚度差将产生很大的底片黑度差，或是厚度小的部位底片黑度太大，因此，在有厚度差的情况下，选择射线能量还必须考虑能够得到合适的透照厚度宽容度。为保证透照质量，标准对透照不同厚度允许使用最高管电压都有一定限制，并要求有适当的曝光量。 3.1.2 焦距的选择 焦距对射线照相灵敏度的影响主要表现在几何不清晰度上。由公式可以看出，焦距F越大，Ug值越小，底片上的影象越清晰。从公式中还可看出，在减小Ug值这一点上，选择较小的射线源尺寸df，可以得到与增大焦距F相同的效果，因此在实际透照中选择焦距时，焦点尺寸也是考虑的因素。 为了保证射线照相的清晰度，标准对透照距离的最小值有限制。在JB4730标准中规定透照距离L1，与焦点尺寸d1和透照厚度L2应满足以下关系： 由于焦距F=L1+L2，所以上述关系式也就限制了F的最小值。在实际工作中，一般并不采用最小焦距，所用的焦距比最小的焦距要大的多。这是因为透照场的大小与焦距有关，焦距增