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第 24 卷 第 3 期 Vol. 24 No. 3
电镀与涂饰
【研究报告】
电沉积银纳米膜的光学性质研究
安茂忠 , 栾野梅 , 乐士儒
( 哈尔滨工业大学应用化学系 , 哈尔滨 150001)
摘 要 : 电沉积制备的银纳米膜的 X射线光电子能谱测试表明 ,纳米膜中的银显示出银元素的特征峰 ;采用四
探针测试仪测量银纳米膜的电导率 ,发现银纳米膜的电导率比纯银要下降两个数量级 ;X 射线衍射分析发现 ,银纳米
膜的衍射峰相对于纯银发生了宽化 ,计算得出平均颗粒大小为 50 nm ;紫外 - 可见分光光度计测量了纳米膜的吸光度 ,
其吸收峰发生“蓝移”;银纳米膜的熔点也会变低 ;用椭圆偏振仪测试不同波长下的复折射率和复介电常数及纳米膜的
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厚度 ;用 Z扫描装置测量出银纳米膜具有非线性折射性质 ,并计算了非线性折射系数 n 达 234 ×10 esu 。
关键词 : 电沉积; 银纳米膜 ; 光学特性
( )
中图分类号: TQ 15316 ; O 484 文献标识码 : A 文章编号 : 1004 - 227X 2005 03 - 0001 - 04
Investigation of the optical characters of electrodeposited silver nanofilm
AN Maozhong , LUAN Yemei , YUE Shiru
(Applied Chemistry Department , Harbin Institute of Technology , Harbin 150001 , China)
Abstract : Silver nanofilm prepared by electrodepositon was examined by Xray photoelectron spectrometer which
showed a peak of silver element. Electric conductivity of silver nanofilm was two orders of magnitude lower than that of
pure silver by fourpin probe instrument ; the diffractive peak of silver nanofilm was broadened compared with that of pure
silver with method of Xray diffractive analysis. The average size of particle was calculated to be 50 nm. The absorbency
of nanofilm was determined by UVvisible spectrophotometer in which absorption peak was shifted to blueside. The melt
ing point of silver nanofilm became lower. The comple
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