光学薄膜热膨胀系数的研究.pdfVIP

维普资讯 第 10卷 第4期 光 学 学 报 Vo1．10．No．4 曲口0年 4月 A0TA OPT1CA 8INICA April．199@ 光学薄膜热膨胀系数的研究 吴周令 范正修 (中国科学院上海光学精密机械研究所) 提 要 光热位移偏转拄术结合横向光热偏转技术可用于研究薄膜样品的热膨胀系数．本文 以Bj 、 0I、 2 、MgF、Th 等单层光学薄膜为倒 报道相关的实验方法爰实验结果。 关键词：光热偏转技术：光学薄膜的热膨胀系数。 一 、 引 言 随着高功率激光技术的发展，光学薄膜的强激光损伤研究越来越引人注 目。 相关工作 的深入进行，需要精确了解光学薄膜的热物理性能，如热导率、热膨胀系数等 。本文针对 这一情况，首次提出用光热位移偏转技术 结合横向光热偏转技术 “研究光学薄膜的热 膨胀系数，结果表明： (1)对吸收率A—lo ～10 量级的光学薄膜 本方法的热膨胀系数检测灵敏度为 。 lⅢ一10“～1O-9deg—l； (2)光学薄膜热膨胀系数在有些情况下与相应块状材料有显著差异 例如：对 ThF4， 弛 I】Ⅲ 2．6×10一。deg～，‰一hu1k -2．5x：tO一 eg-。；对 TiO2，‰ 一rLlm=2．2×1O一。deg-，‘ ‰一b 一(7～9)×10 deg-。 文中描述了实验装置，给出了简要的理论分析和相应的原理性实验，并对结果作了分析 讨论。 二、基 本 原 理 光热位移偏转技术是M．A．Olms~ d等人 于 ：1983年首次提出的一种新型热波探澳I 技术。其基本原理如图1所示。样品受强度调制的激光束(泵浦光束)照射时，光吸收的存 在将在样品内部严重热波，从而使其表面发生周期性形变，当另一束激光束 (探测光束)入射 这一形变区域时，其反射光方 向将发生相应的周期性偏转。使用象限探测器可探测这一倔 转，分析所得结果即可获得关于样品的信息。 横 向光热偏转技术最早 由A．O．Bo0oara等人 于L980年提出，其基本原理如图2所 示。与光热位移偏转技术不同的是，这里引起探测光束发生偏转的原因，是样品表面邻近介 质 内的梯度折射率效应。 收稿 日期：1988年 口月3日；收到修改稿 日期：1989年 6月23日 维普资讯 370 光 学 学 报 10卷 modulated pump beam Fig 1 Geometryofphomlhern~1displa,eement 卫1jg．2 Geometryoftr~m geza,ephoto~hermaI op廿c beam deflection teohn]que optica2bea皿 deflection technique 用光热位移偏转技术结合横 向光热偏转技术测光学薄膜热膨胀系数的基本原理 如 下： 光学薄膜在较低调制频率下属所谓热薄试样 № ，式中 ；为样品厚度，通常为 几千A量级； 为样品热扩散长度 在调制频率，一120Ⅱz时为几十至几百 m量级 { 为光吸收长度)，在这种情况下 光热位移偏转信号 ，与横 向光热偏转信号 。 分别满 足： 1一a蛐。_P(1一 )。 (工) 一 d P(1一 。