平均无故障时间（MTBF）的概述与应用.pdfVIP

增刊 陈鹏 ：平均无故障时间 IMTBF)的概述与应用 t O O O 来计算 MTBF：军 品和高可靠性产 品大多采用 石 4 2 O MIL—STD一217FN2和 GJB299B这两个标准 ，民品 则用 Bellcore方法[1] 上述的3个标准都包括了用于典型电子产品中 元器件的失效率模型 。比如 IC、二极管、晶体管、 电容器和连接器等 这些元器件的失效率都是以各 国和各厂家的实际应用中获得的、最适应的数据为 O 50o 10oO 15oo 2O0o 2250 3O0o ，h 依据 的．在对产 品进行可靠性预计时可 以直接查 找。军标和 Bellcore版本之间虽有几个不 同点，但 图 1 产品的可靠性 随时间的变化 计算 的方式基本上没有太大的区别 在预计的方法上 ．针对整机可靠性试验的失效 1．2 可靠性学科中的寿命和 MTBF的意义 模式多为指数分布的情形 ．各标准采用的是产品中 可靠性学科 中的产 品寿命与公认的寿命是有 区 所有元器件的使用失效率累加后代入 MTBF=1／k的 别 的．公认的寿命是指 自然或不 自然的死亡 ．在生 公式 。求 出MTBF。但要 明确 的是 。这些预计的结 命过程 中的生病、意外伤害是不影响寿命统计的。 果都是产品的设计期望 ．也就是我们常说 的 “潜在 但在可靠性学科 中．产品的寿命是指产品从开始工 可靠性”．最终这些预计结果还是要经过对产品实 作到发生故障的一段时间．发生故障的原因可能是 际工作 的检验来验证 ．这个验证无论是由生产方进 一 个焊点的脱开或是一个器件的失效 ．都被认为是 行还是 由独立的第三方实验室进行 ．都是在试验室 产品寿命的结束 ．当故障修复后产品的寿命被重新 的条件下完成的。因此 。MTBF的第二种计算方法 统计计算 采用 的就是实验室试验结合理论计算 事实上 ． 平“均无故障工作时间”就是平均寿 2．2 实验室试验结合理论计算 命．只不过这个平均寿命与公认的平均寿命是有区 实验室的可靠性寿命评价具有一定 的破坏性 ． 别的。它不表示产品的消亡和报废 的平均时间．而 因而不可能对所有的产品都进行试验 ．而且这样的 只表示产品能正常工作的平均时间。目前。使用最 工作量太大了。因此．通过实验室试验来获取试验 为广泛的一个衡量可靠性的参数是 ．平均失效前时 样品的基本方法是 ，从同型号 、同批次的一批产品 间 (MTTF：MeanTimeToFailure)，定义为随机变 中抽取一部分产品来进行试验 ．这些产品在可靠性 量 、出错时间等 的 “期望值 ”。但是 ，MrI-I1F经常