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第 卷 第 期 光学 精密工程
16 7
Vol.16 No.7
O ticsandPrecisionEnineerin
年 月 p g g
2008 7 Jul.2008
文章编号 ( )
1004924X200807122307
基于单片机的犃犉犕纳米机械性能测试系统
,
12 1 2 2 2 2
闫永达 ,费维栋 ,胡振江 ,程相杰 ,孙 涛 ,董 申
( 哈尔滨工业大学 材料与工程学院,黑龙江 哈尔滨 ;
1. 150001
2.哈尔滨工业大学 机电工程学院,黑龙江 哈尔滨 150001)
摘要:为解决采用原子力显微镜( )系统进行纳米机械性能测试中存在的不能够直接获得载荷 压深曲线以及不能够
AFM
随意改变加载、保载、卸载时间等问题,对 AFM系统进行了改造,开发了一套基于单片机的信号输入输出模块。将该模
块与 AFM控制系统相联,形成新的纳米机械性能测试系统。该系统信号输出精度为 0.15mV,信号采集精度为
,工作台的移动灵敏度为 ,可以动态改变垂直载荷,并实时获得载荷 压深曲线。通过单片机设置模拟信
0.3mV 1.53nm
号的输出速率可以实现加载、保载和卸载速率的改变;结合二维微动精密工作台,可以实现较大范围内高精度的点阵压
痕测试。通过在聚碳酸酯、聚二甲基硅氧烷等材料表面进行实验测试表明:该系统可以高速高精度地测量样品的纳米机
械性能参数,包括对样品进行纳米压痕测试和对样品的纯弹性变形过程进行检测,如聚二甲基硅氧烷或者各种微梁等微
小构件。
关 键 词:原子力显微镜( );单片机;纳米机械性能;载荷 压深曲线
AFM
中图分类号: 文献标识码:
TH742.9 A
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