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GM 计数器死亡时间的研究 杨圣 07300190033 （复旦大学物理系，上海 200433 ） 摘要：实验中发现，在X 射线高压和管流较高的情况下，实际计数率会随着理论计数率的增 大而减小。而这个结果是无法用传统的非拓展型死亡时间来解释的。本文基于泊松分布，建 立了一种新的拓展型死亡时间模型，以及广义死亡时间模型，从而解释了高理论计数率率下 的实际计数率的减小，并且提出了一种可行的测量不同计数率下的死亡时间的方法。 关键字：死亡时间，盖革计数器，计数率，泊松分布 A Research about Dead time of GM Counters ABSTRACT ：In the X-Ray Diffraction experiments, we found that when the voltage and current of X-ray’s tube are high, the actual counting rate would decrease when the theoretical counting rate increased. However, this phenomenon can’t be explained by the traditional non-extended dead time model. In this paper, basing on the Poisson distribution, we made an extended dead time model and a generalized dead time model. We then explained the phenomenon and proposed a new feasible method of measuring the dead time under different counting rate. KEYWORD ：Dead time; GM Counters; Counting rate; Poisson distribution 1．引言 在测量X 射线衍射谱时，我们有时需要X 射线谱的强度。而一般认为，我们应该调节X 射线管的高压和管流，使计数率的强度在1500/s 以下。这是由于GM 计数器的死亡时间的 影响，会使实际计数率小于理论计数率，并且一般文献给出了非拓展型死亡时间的模型。而 实验中发现，在高压和管流很高即理论计数率很高时，实际计数率会逐渐减小，这与非拓展 型死亡时间模型不符。本文通过用泊松分布建立在计数率较高时的拓展型死亡时间模型，解 释了高理论计数率下的实际计数率的减小，并提出了一种测量死亡时间的方法。 2．实验原理及实验装置 2.1 G-M 计数器的结构。G-M 计数器由GM 计数管、高压电源和定标器构成。G-M 计数管中 央是一根极细的金属阳极丝，用一个圆柱形金属套作为阴极，中间填充定量的气体。在G-M 计数管两极加上电压V0 ，设其阳极半径为a，阴极半径为b，则沿着管径向位置为r 处的电 V0 ( ) 场强度为E r = b。可见随着r 减小，电场强度增大，且在阳极附近急剧增大。 rln a 2.2 工作原理。当射线进入G-M 管中使得管中气体电离后，正离子和电子在管内柱状电场 的作用下分别向阴极和阳极移动。在阳极附近强大的电场作用下，电子获得极大的动能以至 于将阳极附近的气体电离。经过多次碰撞，阳极附近的电子急剧增多，形成了所谓“雪崩” 电子；在这些碰撞中会产生大量光子，这些光子能够进一步地产生第二波的“雪崩”效应， 增加电子。雪崩过程发生在阳极附近，加上电子的质量远远小于阳离子的质量，因此电子很 快被阳极吸收，在管内留下一个由大量阳离子构成的阳离子鞘包围着阳极。正离子鞘将随着 电离发生而逐渐增厚。由于正离子鞘的作用，阳极附近的电场强度将随之减小，直到电场强 度不足以引起雪崩效应，这时雪崩效应停止，阳离子鞘停止生成，G-M 管进入恢复过程。在 电场的作用下，正离子鞘缓慢地向阴极移动，阳极附近的 电场也随之恢复，使得与G-M 管串联的电阻记录下一个电