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电 子 测 量 技 术 第 30 卷 第 7 期
研究设计 EL EC TRON IC M EA SU R EM EN T T EC HN OL O GY 2007 年 7 月
基于边界扫描技术的电路板可测性设计分析
1 2
程云波 方葛丰
( 1. 西安电子科技大学机电工程学院 西安 7 1007 1 ;
2 . 电子测试技术国防科技重点实验室 青岛 266555)
( )
摘 要 : 为满足当今电路测试和故障诊断的需求 ,可测性设计 D F T 已成为芯片和系统设计中不可或缺的重要组成
部分 。IEEE 1149 . 1 作为一种标准化的可测性设计方法 ,弥补了传统测试的缺陷 ,为复杂的电路互连提供了测试手
段 。现在大部分的复杂芯片都支持 IEEE1149 . 1 标准 ,怎样利用其来达到更好的测试效果和故障覆盖率是硬件设计
人员必须考虑的问题 。本文从边界扫描原理入手 ,通过对一 目标板上互连结构的测试 ,从可测性设计的角度探讨了如
何使边界扫描技术得到更有效的贯彻和应用 。
关键词 : 边界扫描 ; 可测性设计 ; 扫描链 ; 故障诊断
中图分类号 : TN4 1 文献标识码 : A
D FT analyses of PCB based on boundaryscan technology
Cheng Yunbo 1 Fang Gefeng2
( 1. School of Engineering , Xidian U niver sit y , Xian 7 1007 1 ;
2 . Elect ronics Test and Measurement Technology National L aboratory , Qingdao 266555)
Abstract : To meet t he need of circuit t est and fault diagno si s , D F T ha s been an indi sp en sable p art of IC and sy st em
designing . A s a st andar d D F T met hod , IEEE 1149 . 1 boundaryscan t echnique p rovides mea sures for comp licat ed
int erconnect t est and can well make up t he shortcoming of t raditional t est t echniques. Nowadays , mo st comp lex ICs can
support IEEE 1149 . 1 t est feat ures. It should be con sidered by t he har dware designer t hat how to u se t hese ICs to
achieve a bett er t est abilit y and higher fault coverage . Ba sed on boundaryscan p rincip le , and
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