单缝衍射相对光强分布的测量.pdfVIP

实验三 单缝衍射的光强分布的测量 [实验目的] 1、观察单缝衍射现象，加深对衍射理论的理解； 2、会用光电元件测量单缝衍射的相对光强分布，掌握其分布规律； 3、学会用衍射法测量微小量。 [实验器材] 半导体激光器，可调宽狭缝，硅光电池（光电探头），一维光强测量装置，WJF型数字 检流计，小孔屏和WGZ--IIA导轨。 [仪器描述] 光的衍射现象是光的波动性的一种表现。研究光的衍射现象不仅有助于加深对光本质 的理解，而且能为进一步学好近代光学技术打下基础。衍射使光强在空间重新分布，利用光 电元件测量光强的相对变化(即光电检测[photoelectric detection])，是测量光强的方法 之一，也是光学精密测量的常用方法。 1 2 4 5 6 3 7 图3-1 1—激光器，2—单缝，3—光导轨，4—小孔屏，5—光电探头，6—一维测量装置，7—数字检流计； (1)当在小孔屏位置处放上硅光电池和一维光强读数装置，与数字检流计（也称光点检 流计）相连的硅光电池可沿衍射展开方向移动，那么数字检流计所显示出来的光电流 [photocurrent]的大小就与落在硅光电池上的光强成正比。如图5-2所示的实验装置。 单缝 激光管 硅光电池 根据硅光电池的光电特性可知，光电流和入射光能量成正比，只要工作电压不太小， 光电流和工作电压无关，光电特性是线性关系；所以当光电池与数字检流计构成的回路内电 光点检流计　 阻恒定时，光电流的相对强度就直接表示了光的相对强度。 由于硅光电池的受光面积较大，而实际要求测出各个点位置处的光强，所以在硅光电 池前装一细缝光栏(0.5mm)，用以控制受光面积，并把硅光电池装在带有螺旋测微装置的底 座上，可沿横向方向移动，这就相当于改变了3衍-射角。 图 2 (2)数字检流计量程分为四档，用以测量不同的光强范围，使用前应先预热5分钟。 先将量程选择开关置于“1” 档，“衰减”旋钮置于校准位置（即顺时针转到头，置于 灵敏度最高位置），调节“调零”旋钮，使数据显示为“-.000”（负号闪烁）。 如果被测信号大于该档量程，仪器会有超量程显示，即显示“]”或“E”，其它三位均 显示“9”，此时可调高一档量程；当数字显示小于“190”，小数点不在第一位时，一般应将 量程减小一档，以充分利用仪器的分辨率。 测量过程中，如需要将某数值保留下来，可开“保持”开关（灯亮），此时无论被测信 号如何变化，前一数值保持不变。 由于激光衍射所产生的散斑效应，光电流值显示将在示值的约10%范围内上下波动，属 正常现象，实验中可根据判断选一中间值。 [实验原理] 1.单缝衍射的光强分布 当光在传播过程中经过障碍物，如不透明物体的边缘、小孔、细线、狭缝等时，一部分 光会传播到几何阴影中去，产生衍射现象。如果障碍物的尺寸与波长相近，那么，这样的衍 射现象就比较容易观察到。 单缝衍射[single-slit diffraction]有两种：一种是菲涅耳衍射[Fresnel diffraction]，单缝距光源和接收屏[receivingscreen]均为有限远[nearfield]或者说入 射波和衍射波都是球面波；另一种是夫琅和费衍射[Fraunhoferdiffraction]，单缝距光源 和接收屏均为无限远[far field]或相当于无限远，即入射波和衍射波都可看作是平面波。 在用散射角[scattering angle]极小的激光器(0.002