电子设备静电放电抗扰度性能优化研究.pdfVIP

第 11卷第2期 南京师范大学学报 (工程技术版) Vo1．1lNO．2 2011年6月 JOURNALOFNANJINGNORMALUNIVERSITY(ENGINEERINGANDTECHNOLOGYEDITION1 Jun，2011 电子设备静电放电抗扰度性能优化研究 赵 阳 ，褚鹏超 ，朱志毅 (1．南京师范大学 电气与 自动化工程学院，江苏 南京 210042 2．苏州泰斯特 电子科技有限公司，江苏 苏州 215011) [摘要] 静电放电(ESD)抗扰度性能已成为衡量电子产品性能的一项重要指标．针对某一型号的称重控制器提出了一种用 于提高该被测设备静电放电抗扰度性能的新方法．针对称重控制器的结构，分析其因不 良的架构导致静电放电的原因，通过铜 带线改 良其连接，使其成为一个紧密整体，并分别对于液晶显示部分和内壳结构进行改进．实验结果表明被测物体可顺利通过 测试 ，证明了该方法 的有效性． [关键词] 静电放电，称重控制器，结构，抗扰度 [中图分类号]TP274 [文献标志码]A [文章编号]1672—1292(2011)02-O001-03 Researchon theESD ImmunityPerformanceofaW eighingController ZhaoYang一，ChuPengchao ，ZhuZhiyi (1．SchoolofElectricalandAutomationEngineering，NanjingNodalUniversity，Nanjing210042，China 2．Suzhou3CTestCompany，Suzhou215011，China) Abstract：ElectrostaticDischarge(ESD)immunitytestisatestofrequiredelectromagneticinterference(EMS)project ofmanyelectronicproducts．Theweighingcontrollerfailedtopassthetest，anditistoocomplicatedtomodifythee／r- cultwithlarge—scale．Thispaperpresentsanew ideaofelectrostaticdischargeimprovement．Byanalyzingitsstructure， itisdeducedthatelectrostaticdischargeduetothepoorstructure，improvesthesturctureofEUT byusingfiattypecop— perwire，thenimprovestheliquidcrystaldisplaypartand theinnershellstructurerespectively．Thetestresultshows thattheequipmentsucceededinpassingthetest，whichprovedthatthemethodiseffective，anditofferssomereference valuewhensomecircuitsraetoocomplextomodify． Keywords：electrostaticdischarge，weighingcontroller，sturcture，immunity 静电放电ESD(electrostaticdischarge)现象在 电子产品中十分常见，是造成 电子产品受过度 电应力而 失效的重要因素，它将导致 电子器件 以及 电路系统形成一种不可逆转的损害 ¨，使 电子产品无法正常工 作．静电由于广泛存在，同时静电危害的隐蔽性很强而难以发现，已经成为现代 电子产业中的隐患，静电控 制不容懈怠．国标GBT17626．2 《电磁兼容试验和测量技术静电放电抗扰度试验》 对静电放电测试提出 了标准的测试方法．许多产品在设计初期没