一种基于图像处理的万能工具显微镜测量新方法.pdfVIP

第32卷 第5期 计 量 学 报 Vo1．32，No5 2011年 9月 ACTA METROLOGICA SINICA September，2011 doi：10．3969／j．issn．10001·158．2011．O5．O6 一 种基于图像处理的万能工具显微镜测量新方法 王 波 ， 钮赛赛 (1．滁州学院电子信息工程系，安徽 滁州 239000；2．南京航空航天大学机电学院，江苏 南京210016) 摘要：在分析传统万能工具显微镜及现代数字化仪器优缺点的基础上 ，提出了一种基于图像处理的万能工具 显微镜的测量方法。该方法将图像处理技术与基于FPGA和单片机的光栅测量技术相结合 ，在保证原有仪器的准 确度高、抗干扰能力强、稳定性好、应用范围广优点的基础上 ，运用AutoCAD二次开发技术实现对长度、角度、圆直 径等几何量的精密测量，提高了测量效率和精度，降低了操作人员的劳动强度。经过与双频激光干涉仪的测试结 果进行比较，证明提出的方法具有较高的重复性和测量精度。 关键词：计量学 ；万能工具显微镜；光栅尺；图像处理 ；亚像素 中图分类号：TB92 文献标识码 ：A 文章编号：1000-1158(2011)05-0419-05 New MeasurementofOmnipotenceTool—Microscope BasedonImageProcessing W ANG Bo ， NIU Sai．sai (1．CollegeofElectronicsandInformationEngineering，ChuzhouUniversity，Chuzhou，Anhui239000，China； 2．CollegeofMechanicalElectricalEngineering．NanjingUniversityof AeronauticsandAstronautics，Nanjing，Jiangsu210016，China) Abstract：Basedontheanalysisoftheadvantagesanddisadvantagesofthetraditionalomnipotencetool-microscope andmodem digitalequipment，anew measurementbasedonimageprocessingispresented．Thismethod combinesimage measurementtechnologywith gratingmeasurementtechnoloyg basedon FPGA and SCM ，and usesAutoCAD secondary developmentoftechnoloyg forlength，angle，diameter，nad othergeometricprecisionmeasurementoftheamount．On the basisofmaintainedadvantagesoforiginalequipmentsuchashiighprecision，strongnati-jamming，long—termstability，wide applicationandsoon．itCna improveefficiencynadprecisionofmeasurementandreducesoperationintensity．Compared withthetestresultsofDual—frequencylaserinterferometer，itprovesthatthismethodhashighprecisionrepeatabilityand