单幅对称变形相位图分离二维变形分量的相移电子散斑干涉技术.pdfVIP

维普资讯 第 37卷第 2期 光 子 学 报 Vo1．37No．2 2008年 2月 ACTA PHOTONICA SINICA February2008 单幅对称变形相位图分离二维变形分量的 相移 电子散斑干涉技术 荆、平 (山东师范大学 物理与电子科学学院，济南 250014) 摘 要 ：提 出了利用相移电子散斑干涉测量物体二维变形分量的方法．单光束照明的传统电子散斑 干涉技术，测量得到的是一幅物体变形的混合相位场．当物体具有对称变形 时，可由这一幅相位 图 求得二维变形分量．方法是将该相位图镜像翻转得到第二幅相位 图，通过二幅相位图的叠加 、复位 和分离运算 ，获得物体的二维变形场的分量值．利用三点加载的简支梁进行 了实验，给 出了实验结 果 ，并与对称光照 明实验结果进行 了对 比，验证 了该方法 的正确性． 关键词 ：物理光学；电子散斑干涉；位移测量；对称变形 中图分类号 ：O348 文献标识码 ：A 文章编号 ：1004-4213(2008)02-0337—3 0 引言 1 2 电子散斑干涉测量技术口 可 以精确测量物体 的变形场，具有精度高、非接触、对隔震要求低等优 点，在物体的静 、动态测量 中得到广泛应用．由于物 体 的变形是多维的，常常需要测量物体 的二维或三 图l 传统盯相移电子散斑干涉系统 维变形分量．但在 已有的研究成果中，单光束照 明的 Fig．1 Typicalphase-- shiftingESPIsystem 电子散斑干涉只能获得离面位移场或者混合场．物 表示 体的二维位移分量的测量 ，其实验系统往往 比较复 △ 一竿Ew(1+cos)4-usinol (1) A 杂，通常采用对称光束照 明或者多光束照 明的方 式中，叫表示物体 的离面位移 ，“代表物体 的面 内 法l3J．复杂的光学系统增加了测量 的不确定度 ，不 位移水平分量．由式 (1)可见，单光束照 明的电子散 利于实现物体位移分量场的快速 、稳定的测量 ，从而 斑干涉系统测量得到的是物体变形 的混合场． 很 限制了该技术在工业等领域的某些应用． 小或者垂直时 ，测量得到的是一维的离面位移分量． 当受载物体具有对称变形时，可以根据变形场 当物面饶Y轴翻转后 ，式 (1)中的三个变量变 对称的特点，通过图像处理的办法，由单光束照明测 化．物面翻转后 ，表面的法线方向沿礴由的反方向，有 量得到的相位场 中分离获得二维 的变形分量．本文 0÷一 0：叫 ÷一 叫 ：“ “ 利用典型的单光束照明相移电子散斑干涉系统得到 将变化后的变量代人式(1)，则物面翻转后的相位为 变形的相位场 ，根据变形场对称的特点 ，对