微分代数在磁场分析器高阶像差分析中的应用.pdfVIP

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2017-09-11 发布于重庆
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微分代数在磁场分析器高阶像差分析中的应用.pdf

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第 36 卷　第 6 期西　安　交　通　大　学　学　报 Vol. 36 　№6 2002 年 6 月　　　　 J un. 2002 JOURNAL OF XI′AN J IAO TON G UN IV ERSIT Y ( ) 文章编号 :0253 - 987X 2002 微分代数在磁场分析器高阶像差分析中的应用程　敏 , 唐天同 , 姚振华 , 王振华 (西安交通大学电子与信息工程学院 , 710049 , 西安) 摘要 : 将微分代数引入到磁场分析器任意高阶的像差分析计算中. 对一个实际的均匀扇形磁场分析器中的三阶像差系数的微分代数数值结果和相应的解析解进行了比较 ,相对误差不高于 10 - 14 , 证明微分代数方法是一种具有极高精度的数值计算技术. 关键词 : 微分代数 ;磁场分析器 ;像差分析中图分类号: O4631 　文献标识码 : A Differential Al gebra for High Order Aberration Analysis of Ma gnetic Field Analyzers Cheng M in , Tang Tiantong , Yao Zhenhua , W ang Zhenhua ( School of Electronics and Information Engineering , Xi ′an Jiaotong University , Xi ′an 710049 , China) 　　将微分代数[ 1] 引入到磁场分析器高阶像差的 2 ( ) 2 Γ Γ [ x ′+ 1 + kx ] + x ′y ′ x ″= 2 x y 分析中, 并计算了均匀扇形磁场分析器系统的几何 ( 1 + kx) ( ) 1 像差系数, 其三阶像差系数的微分代数的数值结果 2 ( ) 2 Γ Γ [ y ′+ 1 + kx ] + x ′