_sup_222__sup_Rn__sup_220__sup_Rn绝对测量小闪烁室的ZnS(Ag)涂层厚度确定.pdfVIP

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2017-09-11 发布于山东
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第26卷第1期南华大学学报(自然科学版) Vol郾26 No郾1 2012年3月 Journal of University of South China(Science and Technology) Mar郾2012 文章编号:1673-0062(2012)01-0019-05 222 220 Rn/ Rn绝对测量小闪烁室的ZnS(Ag)涂层厚度确定 * 贺三军,赵修良 ,刘丽艳,曹光辉,练德幸 (南华大学核科学技术学院,湖南衡阳421001) 222 220 摘摇要:ZnS(Ag)涂层厚度会影响 Rn/ Rn 绝对测量小闪烁室的探测效率. 用 241 2 Am琢电镀参考源对厚度为10 mg/ cm 的ZnS(Ag)涂层琢探测效率进行了实验验证.分别采用解析方法与MCNP模拟方法计算了相对立体角修正因子,讨论了空气层 2 对琢粒子的吸收修正,分析了不确定度来源.实验结果表明,10 mg/ cm ZnS(Ag)涂层对琢粒子的探测效率在102.4% ~103.1%之间,不确定度小于5.44%.在实验不确 222 220 定度范围内,可认为其对琢粒子的探测效率为100%. 实验证明了 Rn/ Rn 绝对测 2 量小闪烁室内采用10 mg/ cm 厚的ZnS(Ag)涂层是可行的. 222 220 关键词:ZnS(Ag);涂层厚度;小闪烁室; Rn/ Rn;绝对测量中图分类号:TL812摇摇摇文献标识码:B ZnS(Ag) Coating Layer Thickness Verification of One Small 222 220 Scintillation Cell for Rn/ Rn Absolute Measurement * HE San鄄jun,ZHAO Xiu鄄liang ,LIU Li鄄yan,CAO Guang鄄hui,LIAN De鄄xing (School of Nuclear Science and Technology,University of South China,Hengyang,Hunan421001,China) 222 220 Abstract:The detection efficiency of one small scintillation cell for Rn/ Rn absolute measurement can be affected by ZnS