- 1、原创力文档(book118)网站文档一经付费(服务费),不意味着购买了该文档的版权,仅供个人/单位学习、研究之用,不得用于商业用途,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或者网络传播等,侵权必究。。
- 2、本站所有内容均由合作方或网友上传,本站不对文档的完整性、权威性及其观点立场正确性做任何保证或承诺!文档内容仅供研究参考,付费前请自行鉴别。如您付费,意味着您自己接受本站规则且自行承担风险,本站不退款、不进行额外附加服务;查看《如何避免下载的几个坑》。如果您已付费下载过本站文档,您可以点击 这里二次下载。
- 3、如文档侵犯商业秘密、侵犯著作权、侵犯人身权等,请点击“版权申诉”(推荐),也可以打举报电话:400-050-0827(电话支持时间:9:00-18:30)。
- 4、该文档为VIP文档,如果想要下载,成为VIP会员后,下载免费。
- 5、成为VIP后,下载本文档将扣除1次下载权益。下载后,不支持退款、换文档。如有疑问请联系我们。
- 6、成为VIP后,您将拥有八大权益,权益包括:VIP文档下载权益、阅读免打扰、文档格式转换、高级专利检索、专属身份标志、高级客服、多端互通、版权登记。
- 7、VIP文档为合作方或网友上传,每下载1次, 网站将根据用户上传文档的质量评分、类型等,对文档贡献者给予高额补贴、流量扶持。如果你也想贡献VIP文档。上传文档
查看更多
2011正 仪 表 技 术 与 传 感 器 2011
第 10期 Instrument Technique and Sensor No.10
基于衍射光栅计量系统的非接触轮廓测量位移传感器
黎 新,陈育荣,王生怀
(湖北汽车工业学院机械工程系,湖北十堰 442002)
摘要:聚集检测法是一种非接触轮廓测量方法,但是现有的聚焦检测法采用音圈电机 ,其测量精度有限。针对此问
题,文中提 出了一种非接触位移传感器,该传感器基于改进的傅科聚焦检测法,并带有衍射光栅计量系统。通过压电驱动
器取代音圈电机驱动,并配合位移计量系统,提高了传感器的测量精度。在表面轮廓采样时,根据聚焦偏差信号,压电驱
动器驱动聚焦透镜作垂直运动,使焦点始终在工件表面,同时衍射光栅计量系统测得聚焦透镜的垂直位移并将其作为采
样点的轮廓高度。所有采样点的位移显示出被测量表面的整个轮廓,评定软件处理这些位移数据即可获得测量结果。该
非接触的位移传感器的分辨率为 10am.
关键词:聚焦检测法;位移传感器;衍射光栅计量系统;压电驱动器;轮廓测量
中图分类号:TP212;TN405 文献标识码:A 文章编号 :1002—1841(2ol1)10—0001—03
Non—contactDisplacementSensorwithDiffractionGrating
M etrologySystem forProfileM easurement
LIXin,CHEN Yu—rong,WANG Sheng-huai
(MechanicalDepartment,HubeiAutomotiveIndustriesInstitute,Shiyan442002,China)
Abstract:Focusdetectionmethodisoneofthenon—contactprofilemeasurementmethods.However,themeasurementaccuracy
ofcurrentfocusdetectionmethodislimitedbyvoicecoilmotoradoptedbyit.Thispaperpresentedanewnon—contactdisplacement
sensorwithdiffractiongratingmetrologysystem basedonallimprovedFoucauhfocusdetectionmethod.Drivenbyapiezoelectric
actuatorinsteadofavoicecoilmotor,andadiffractiongratingmetrologysystem beingwithit,thesensorhashighmeasurementae-
curacy.Duringsurfaceprofilesampling,accordingtofocusingdeviationsignal,thefocusinglensisdriventomoveverticallybythe
piezoelectricactuatorSOthatitsfocusisalwayslocatedontheworkpiecesurface;synchronouslytheverticaldisplacementofthefo—
cusinglensisobtainedbythediffractiongratingmetrologysystem astheprofileheightofsamplingpoints.Thedisplacementsofall
samplingpointsshow thewholeprofileofthemeasuredsurface,whichcanbeprocessedbycharacterizationsoftwa
原创力文档


文档评论(0)