REACH法规中SVHC高关注物质无机元素快速筛选检测方法 X射线荧光光谱法.docVIP

SN 中华人民共和国出入境检验检疫行业标准 SN/T XXXX-XXXX REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法 Rapid Screening of cobalt, arsenic, chromium,sodium,tin,lead,zinc, silicon, aluminum, molybdenum,potassium,strontium,zirconium,calcium of substance very high concern of REACH—Wavelength dispersive X-ray fluorescence spectrometry （征求意见稿） XXXX-XX-XX 发布 XXXX-XX-XX 实施 中华人民共和国 国家质量监督检验检疫总局 发 布  本标准GB/T 1.1-2009《标准化工作导则 第1部分：标准的结构和编写》。  REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的快速筛选检测方法 波长色散X射线荧光光谱法 范围 本标准规定了用波长色散X射线荧光光谱法筛选REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的方法。 本标准适用于REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的筛选测定。 本标准适用于筛选元素的浓度限值如表1所示。 表1 不同基体材料筛选限值 单位为毫克每千克 元 素 聚合物材料 金属制品 材料 Co P≤(220-3σ)V P≤(220-3σ)V P≤(160-3σ)V As P≤(110-3σ)V P≤(110-3σ)V P≤(80-3σ)V Cr P≤(60-3σ)V P≤(60-3σ)V P≤(40-3σ)V Na P≤(80-3σ)V P≤(80-3σ)V P≤(60-3σ)V Sn P≤(270-3σ)V P≤(270-3σ)V P≤(190-3σ)V Pb P≤(210-3σ)V P≤(210-3σ)V P≤(150-3σ)V Zn P≤(120-3σ)V P≤(120-3σ)V P≤(80-3σ)V Si P≤(60-3σ)V P≤(60-3σ)V P≤(50-3σ)V Al P≤(130-3σ)V P≤(130-3σ)V P≤(90-3σ)V Mo P≤(30-3σ)V P≤(30-3σ)V P≤(20-3σ)V K P≤(140-3σ)V P≤(140-3σ)V P≤(100-3σ)V Sr P≤(300-3σ)V P≤(300-3σ)V P≤(210-3σ)V Zr P≤(70-3σ)V P≤(70-3σ)V P≤(50-3σ)V Ca P≤(210-3σ)V P≤(210-3σ)V P≤(150-3σ)V 注1：P表示合格，V表示需进一步采用其他方法确证。 注2：3σ表示σ是指其限用物质含量接近关注限值的典型样品的标准偏差，通常用很少数量（不少于7次）的测定进行估算。 GB/T 8170 数值修约规则与极限数字的表示和判断 GB/T 15000.5 标准样品工作导则（5） 化学成分标准样品技术通则 GB/T 16597 冶金产品分析方法 X射线荧光光谱法通则 试剂和材料 4.1 P-10混合气：含90%（V/V）的氩气和10%（V/V）的甲烷。 4.2 氦气：纯度大于99.9%。 4.3 钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的有证标准物质。 仪器和设备 6.1 均质样品的制备 聚合物类材料和金属制品类材料具有同一均匀物性，可以用于X射线荧光光谱仪直接测定，样品经过切割机（5.2）或人工剪切等方式切割成Φ20 mm~Φ40 mm大小 测量 7.1 测量次数 选择均匀同一物性的样品至少做两份试样的平行测定，测定结果的数据处理参照GB/T 16597对结果的处理方法。 7.2 测量条件 推荐REACH法规高关注物质中钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙的波长色散X射线荧光光谱仪测量条件参见附录A。 7.3工作曲线的制作和校正 按照GB/T 15000.5的规定和表1中的筛选限值选择有证标准物质或参考物质用制作工作曲线，这些标准应含有钴、砷、铬、钠、锡、铅、锌、硅、铝、钼、钾、锶、锆和钙元素。 工作曲线的校正可采用背景校正、经验系数法校正，参见附录B。 7.4 测量 仪器稳定后，选用标准物质对仪器作漂移校正和工作曲线，标准物质的基体应尽可能与样品类似，根据制作的校准曲线计算实际样品中钴、砷、铬