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A 硅漂移(SDD)阵列探测器X射线能谱测量诊断 SDD工作原理 诊断窗口设计和信号流程 电子学系统 可预期的主要实验果 B.先进的二维硬X射线成像 CCD系统设计 高能电子轫致辐射 二维硬X射线成像CCD系统的工作原理 针孔相机设计 电子学控制线路和应用软件 讨论与结论(1) SDD探测器是一种换代型的先进的软X射线能谱探测器,它的独设计使之具有计数率高,死时间接近零,体积小,能量分辨率高,可工作在室温或电致冷条件下,较易做成探测器阵列,与汤姆逊散射或ECE方法相比较,其时、空分辨能力可与之接近,但软X射线能谱法在使用SDD探测器阵列后,因其测量精确度高,使用寿命长,造价较低,抗干扰能力强, 适应于各种放电条件,信息获取量大等优势备受重视,可作为电子速率分布、Zeff分布、重杂质分布及电子温度绝对测量的重要诊断设备。 对SDD的使用寿命有疑虑。 讨论与结论(2) * 电子速率时、空分布动力学及高能电子输运和被捕获过程的实验研究 HL-2A后续新诊断项目:SDD阵列和先进的2-D硬X射成像CCD系统设计 SWIP 采用最新的SDD探测器阵列测量HL-2A托卡马克等离子体软X射线(1～20keV)辐射的能谱,获得电子速率分布、电子温度、Zeff、重金属杂质含量绝对值及其时、空分布。由于SDD探测器较之传统的Si(Li)探测器有体积小,计数率高(≥106/s),能量分辨和量子效率高,不需液氮冷却的特点,并采用高速ADC和海量缓存器,电子温度测量的时、空分辨能力接近于汤姆逊散射和ECE等方法,但测量精确度,使用寿命,造价,抗干扰能力,适应性等方面均优于后者,且信息获取量大,可获多种等离子体参数而备受重视,是一种最先进的诊断手段。为HL-2A托卡马克设计一种先进二维硬X射线成像 CCD系统直接测量硬X射线辐射强度二维时空分布I( X,Y,t)并由此计算出电子速率分布的fe ( V,r,t )。为二级加热和无感电流驱动如ECH/ECCD,LHH/LHCD,ICRH/ICCD的效果、波可近性、共振层位置、能量沉积范围等方面的实验研究提供重要诊断手段；也可用于内破裂、大破裂、MHD,特别q=2附近高模的MHD行为、热电子和超热电的输运、被捕获的高能粒子图像以及与模式波(如m=1,n=1)共振引起的鱼骨模不稳定性、辅助加料引起和诱发逃逸电子雪崩现象的实验观察与研究。 工作原理图 探测器实物照片 能量分辨 诊断窗口及信号流程 可预期的主要实验果 高能电子轫致辐射 轫致辐射角度关系 X射线管原理 早期(1994年)的硬X射线成像系统 总体设计 光/电图像转换及ICCD 表1:X射线莹光材料特性 莹光材料 CSI(Tl) CSI(非激活) P43(Gdo2S:Tb) P47 发光效率* 45% 200%(1000K) 最强发射波长 550nm 400nm 兰光 闪烁衰减时间 1μs 1μs ≤1μs ≤1μs 测量能量范围 0.02～10MeV 10～200keV 10～100keV 1～50kev *表示相对于NaI(Tl)的莹光发光效率。 莹光材料特性 针孔相机设计 可调节针孔和吸收箔工艺设计 电子学线路 * * * * *
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