JTAG技术在TOF电子学中研究和应用.pdf

中国科学技术大学硕士论文 JTAG技术在TOF电子学中的研究和应用 摘 要 随着电子技术的飞速发展，电路板测试技术也出现了重大变革，一项新的电路板PCB 扳上的Ic之间的互连测试技术在20世纪末诞生并且得到了迅速广泛的应用。这项测试技术 就是由IEEE．11491标准，又称JTAG规范规定的边界扫描测试技术。JTAG规范不仅推动 了可测试性设计的发展，大大降低了电路板测试的成本和时间，而且为芯片内部寄存器提供 了一种方便有效的“下载”和“读取”方式。 北京谱仪三期改造工程的时间飞行谱仪(TOF)电子学系统设计中采用了目前世界上最 Performance 先进的时间数字转换器——HPTDc(High TDC)，该芯片强大而又复杂的功能 模式的选择是通过对芯片内部大量的数据寄存器进行JTAG“下载”来完成。同时，HPTDC 带有边界扫描功能，可以做可测试性设计。 本论文将比较详细的介绍JTAG技术在TOF电子学中的研究和应用，并比对边界扫描 测试机制的应用做了比较基础、初步的研究和试验。 论文由五章正文和三章附录组