SiO的表面化学修饰及其DRS和Raman.pdfVIP

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2017-09-04 发布于重庆
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第 2 7 卷 , 第4 期　　　　　　　　　　　　光谱学与光谱分析 Vol 27 ,No4 ,pp 720724 2 0 0 7 年 4 月　　　　　　　　　　　　Sp ect ro scop y and Sp ect ral Analy si s Ap ril , 2007 　 TiO / SiO 的表面化学修饰及其 D RS 和 Ra man 光谱分析 2 2 1 2 1 桑丽霞 , 钟顺和 , 马重芳 1. 北京工业大学环境与能源工程学院 , 教育部“传热强化与过程节能”重点实验室 , 北京市“传热与能源利用”重点实验室 , 北京　100022 2 . 天津大学化工学院 , 天津　300072 摘　要　以氯化醇钛盐表面反应法制备系列 TiO / SiO , 根据 XRD , Raman 和 DR S 表征分析 , 载体表面具 2 2 有分子级分散的锐钛矿型 TiO 微晶粒子和非晶 TiO 物种。与本体 TiO 相比 , TiO / SiO 的吸收带边显著 2 x 2 2 2 蓝移 , 能隙增大为 396 eV 。当金属 M ( M : Pd , Cu 和 Ni) 负载于 TiO / SiO 表面 , 可使其光吸收域扩展到可 2 2 见光区 , 并引起吸收带边红移。相对 Pd 的负载 , Cu , Ni 的负载对 TiO / SiO 的L MC T 带影响更大 , 其中 2 2 CuTiO / SiO 的能隙减小为 368 eV 。当金属氧化物 MoO 负载于 TiO / SiO 上时 , 可以调变 TiO / SiO 的 2 2 3 2 2 2 2 吸收带边并增强对可见光的吸收 ; 随 MoO3 载量的增加 , 表面物种的相互作用增强 , 形成 MoOTi 复合结构 , 增强了L MC T 带的吸收强度 , 并使能隙减小为 381 eV 。关键词　TiO / SiO ; 表面改性 ;