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第 卷 第 期 年 月 物 理 学 报
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小角 射线散射法测定溶胶平均界面厚度!
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李志宏 巩雁军 吴 东 孙予罕!
（中国科学院山西煤炭化学研究所煤转化国家重点实验室，太原 #$）
王 俊 柳 义 董宝中
（中国科学院高能物理研究所同步辐射实验室，北京 $#% ）
（ 年 月 日收到； 年 月 日收到修改稿）
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溶胶界面层厚度通常是用()*)+ 法对高角区负偏离的()*)+ 曲线进行拟合求算，但本文研究表明还可通过分别
测定 负偏离校正前后体系粒子的平均半径之差而获得平均界面厚度 应用上述方法测定了在不同制备条件
()*)+ ,
下制备的二氧化硅溶胶的平均界面厚度,
关键词：小角 射线散射，溶胶，平均界面厚度
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［ （）］ 曲线将形成负偏离，即
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引 言 ［ （）］ ， （）
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胶体是一种重要的纳米粒子分散体系 ，小角
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