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实验一. 逻辑门的测试及应用 《数字电子技术实验》 一. 实验目的： 1. 掌握TTL逻辑门功能侧试方法。 2.熟悉TTL与非门主要参数的物理意义和测试方法。 3.熟悉实验室仪器、实验装置的结构、功能及使用方法。 二. 实验原理 在使用逻辑门之前，往往要对逻辑门进行逻辑功能检查，以确定逻辑功能正常与否，根据需要还可以测试其主要参数，以了解其电气特性。 1.逻辑门的逻辑功能测试： 测试门电路逻辑功能有两种方法。 第一是静态侧试，其方法是给门电路输人端加固定的高电平或低电平，用示波器、万用电表或发光二极管(LED)测出门电路的输出响应。 第二是动态测试，其方法是给门电路的输人端加一串脉冲信号，用示波器观测翰人波形与输出波形的同步关系。 下面就以四2输入与非门74LS00为例，进行逻辑功能测试。74LS00与非门的外引线排列如图所示。74LS00是将四个2输人与非门封装在一个集成电路芯片中，一片共有14条外引线.在使用时必须在第14条引线上加+5V电压，第7条引线接地。 （1）静态逻辑功能测试 静态逻辑功能测试用来检查门电路的真值表，确认门电路的逻辑功能正确与否。 74LSOO的逻辑功能为： 与非门真值表： 三. 实验内容 1、TTL与非门逻辑功能测试 2、TTL与非门主要参数测试 (1)分别按图1-3(a)(b)(c)、图１－４接线并进行测试将测试结果记入表１－２中 图1-3 TTL与非门静态参数测试电路图 (2)电压传输特性测试 按图1-5接线,调节电位器Rw,使Ｖi值从低向高或从高向低变化，逐点测量Ｖi和Ｖ0值，记入表中，并在方格纸上画出电压传输特性曲线。 3、观察与非门对脉冲的控制作用 图1-7与非门对脉冲的开关作用 4、用双踪示波器观察A端与Y端的波形 四.报告要求： 1、写明实验目的 2、简述实验原理。 3、实验数据： (1)记录整理实验数据和实验结果,完成表1-2,表1-3,表1-4。 (2)根据表1-4中的数据在方格纸画出电压传输特性曲线，并从曲线中标出Von、Voff 、VoH、VoL、 VTH等参数。 （3）在方格纸上画出实验内容3中的输入输出信号波形图。 五.实验设备与器件： 1. 双踪示波器、函数信号发生器、直流稳定电源、万用电表、实验箱。 2. 四2输人与非门74LS00、电阻。 * * 0 1 1 1 0 1 1 1 0 1 0 0 Y B A 输出 输入 测得值 VoLmax IOLmax IiL ICCH ICLL(ma) 参数名称 表１－２ mA VCC +5V ICCL ＆ mA VCC +5V ICCH ＆ IiL (a) (b) mA VCC +5V ＆ (c) 低电平输出电源电流 高电平输出电源电流 低电平输入电流 IOL VOL mA V +5V 100Ω 1K ＆ vi v0 ＆ +5V 图1-4 扇出系数测试电路 图1-5 传输特性测试电路 V0(V) 1.6 1.4 1.2 1.1 1.05 1.0 0.95 0.9 0.8 0.6 0.4 0 Vi(v) ﹉ V0H 2.0 4.0 1.0 3.0 2.7 0.4 V0n 1.0 V0ff 0.5 V0L Vi(v) V0(V) VTH 电压传输特性曲线 Y +5V VCC A B ＆ Y +5V VCC A B ＆ +5V 图1-7与非门对脉冲的开关作用 （A） （B） 1、图1-7(A)方程 2、图1-7(B)方程 零电平 零基准线 零电平 零基准线 输入 输出 VPP 零基准线 输入 输出 T VPP 零基准线 图1-7(B)波形 图1-7(A)波形 * * * * *