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§6.2 X射线衍射分析其它应用简介 一、点阵参数的精确测定 点阵常数是晶体物质的基本结构参数，它随化学成分和外界条件(温度和压力等)的变化而变化。通过对某物质的点阵参数的精确测定，来研究其固溶体类型、晶体结构、晶体缺陷、晶体密度、材料的应力状态、相变过程、膨胀系数及相图的测定等。但是由于上述状态的变化引起的点阵参数的变化（?a）数值都很小，所以精确测定衍射线的2θ位置是及其关键的，通常不能小于0.1%。点阵参数是通过X射线衍射线的位置(θ)的测量而获得的。以立方晶系为例，测定θ后，点阵常数a可按下式计算： 二、微晶尺寸的测定 通过某晶面的衍射线宽度，测定微晶大小、应变，对一些金属材料还可计算位错密度等。 应用谢乐公式： Dhkl=Kλ/βcosθ 式中 Dhkl：是垂直于（hkl）晶面方向上的晶粒尺寸（?）； λ： X射线波长（?）； β： 衍射峰的半高宽（弧度）； θ： 衍射峰的布拉格角（度） K： 是常数。 三、宏观应力的测定 内应力是指产生应力的各种因素不复存在时(如外力已去除、加工已完成、温度已均匀、相变已停止等)，由于不均匀的塑性变形或相变而使材料内部依然存在的并自身保持平衡的应力。内应力按其平衡范围分为三类。 第一类内应力：在物体较大范围(宏观体积)内存在并平衡的内应力，此类应力的释放，会使物体的宏观体积或形状发生变化。第一类内应力又称“宏观应力”或“残余应力”。宏观应力使衍射线条位移。 第二类内应力：在数个晶粒范围内存在并平衡的内应力，一般能使衍射线条变宽，但有时也会引起线条位移。 第三类内应力：在若干个原子范围内存在并平衡的内应力，如各种晶体缺陷(空位、间隙原子、位错等)周围的应力场、点阵畸变等，此类应力的存在使衍射强度降低。 通常把第二类和第三类应力称为微观应力。 金属材料或零件经受各种冷热加工或工艺处理(如切削加工、装配、冷拨、冷轧、喷九、铸造、焊接、热处理、电镀等)之后，其内部将存有残余应力。残余应力对材料的疲劳强度、静强度、抗蚀性、尺寸稳定性、相变、硬度、磁性、电阻、内耗等均有影响。如焊接引起的残余应力能使构件变形，在特殊介质中工作构件表面张应力会造成应力腐蚀。热处理或磨削产生的残余应力往往是量具尺寸稳定性下降的原因。这些残余应力都是要尽量避免和设法消除的。因此测定残余应力对控制各类加工工艺、检查表面强化或消除应力工艺效果、预测零部件疲劳强度的储备以及进行失效分析等都有重要的意义。宏观应力在物体中较大范围内均匀分布，产生均匀应变，表现为该范围内方位相同的各晶粒中同名(HKL)面晶面间距变化相同，从而导致衍射线向某方向位移(2θ角的变化)，这就是X射线测量宏观应力的基础。测定宏观应力，就是根据衍射线条位移，求出面间距的相对变化，再应用弹性力学中应力应变之间的关系求出宏观应力，此时，应变是用晶面间距的相对变化表示的。 当d1d2d3d4时是压应力；当d1d2d3d4时是张应力。人们用衍射仪测应力时通常采用0°—45°法。当然，测定宏观应力的最好方法还是用X射线衍射应力仪。 四、结晶度的测定 结晶度的大小直接影响着材料的机械、物理性能。结晶度就是部分结晶材料中结晶部分所占的重量百分数。一般常采用如下公式计算： 式中 IC：晶相的散射强度； IA：非晶相的散射强度。 五、取向度的测定 取向度和结晶度一样都是表征纤维、高分子、薄膜等材料的聚集结构的重要参数。人们经常用下面的经验公式表示取向度的大小： 式中 Ho： 表示某（hkl）衍射峰的半高宽（单位是度）。 六、 织构（择尤取向）的测定 可利用极图附件测定各种板、丝材料的织构。如变压器里的硒钢片、电容器里用的铝箔、纤维丝及我们现在日常生活中常用的易拉罐材料等。人们常用下列三种方式来描述织构：⑴极图（pole figure）法；⑵反极图（inverse pole figure）法；⑶三维取向分布函数（three dimensional orientation distribution）法（ODF）。 七、 非晶材料的径向分布函数的测定（RDF） 非晶态物质主要包括氧化物玻璃、金属玻璃、非晶半导体、非晶催化剂、非晶超导体、非晶聚合物和非晶陶瓷等。它们具有优异的力学、电学、滋学、声学、光学及化学性质。例如金属玻璃强度、硬度高，韧性也较好；某些金属玻璃的软磁性与最好的晶质材料相当，但铁的损耗则小得多；某些金属玻璃其耐蚀性优于不锈钢。此外氧化物玻璃、非晶高聚物也有极其优异的特殊性能。在应用方面，非晶态物质有着广阔的前景。非晶态物质的优异性能与其特殊的微观结构密切相关，因而对其结构的研究也就特别为人们所关注。用衍射方法测定非晶态物质的结构在目前还是主要的 。 X射线衍射法测定非晶结构的原理是利用相干