自顶向下贯穿腐蚀制备空腔型FBAR的方法.pdfVIP

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自顶向下贯穿腐蚀制备空腔型FBAR的方法.pdf

第36卷第5期 压 电 与 声 光 Vo1.36No.5 2014年10月 PIEZOEIECTRICS ACOUST()()PTICS Oct.2014 文章编号 :1004—2474(2014)05—0679—06 自顶 向下贯穿腐蚀制备空腔型 FBAR的方法 高 杨 ,何 移。,周 斌。,何婉婧。,李君儒。 (1.中国工程物理研究院 电子工程研究所,四川i绵阳621999;2.西南科技大学 信息工程学院,四JIl绵阳 621010; 3.重庆大学 新 型微 纳器件 与系统技术 国防重点学科实验室 ,重庆 400044) 摘 要 :牺牲层释放是空腔型薄膜体声波谐振器 (FBAR)工艺中形成空腔结构的关键步骤 ,牺牲层释放 的效果 直接决定了空腔型 FBAR的谐振特性 。根据空腔型 FBAR中气隙的功能和结构特点,提出了 自顶向下贯穿腐蚀牺 牲层制备镂空空腔型 FBAR的创新工艺方法。为验证该方法 的可行性 ,采用 MATIAB对牺牲层腐蚀 的恒扩散系 数 (CDC)模型进行数值迭代,采用 Silvaco软件对其腐蚀过程进行仿真,根据仿真结果提出释放窗口的优化设计;采 用 ANSYS软件对镂空 FBAR的谐振特性进行有限元仿真分析 ,对 比常规 FBAR发现 ,镂空 FBAR具有较好 的谐 振特性 ,且其 阻抗零 点、阻抗极点频率 向高频段漂移 ,有效机 电耦合系数和品质因数降低 。 关键词 :薄膜体声波谐振器 (FBAR);空腔型;牺牲层腐蚀 ;释放窗 口;谐振仿真 中图分类号 :TN7l3+.2 文献标识码 :A Top-d‘own Through。·viaW etEtchingM ethodtoFabricateCavityTypeFBAR GAOYang ,HEYi ,ZHOUBin。~,HEWanjing。,LIJunru。 (1.InstituteofElectronicEngineering,ChinaAcademyofEngineeringPhysics,Mianyang621999,China;2.SchoolofInformation Engineering,SouthwestUniversityofScienceandTechnology,M ianyang621010,China;3.NationalKeyLab.ofFundamental ScienceofMicro/NanoDeviceandSystem Technology,ChongqingUnj、ersity.Chongqing400044.China) Abstract:Thesacrificelayerreleaseisthecrucialprocessstep to form thecavitystructureofthecavitytype film bulkacousticresonator(FBAR),andthesacrificelayerreleaseresultdirectlydeterminestheresonancecharae teristicsofthecavitytypeFBAR.Basedontheinsightofthefunctionalandstructuralcharacteristicsoftheairgap inthecavitytypeFBAR,anovelprocessmethodnamedasthetop—downthroughviawetetchingtofabricatetheap— erturedcavitytypeFBAR isproposed.Tovalidatefeasibilityofthenovelfabricationmethod,theconstantdiffusion coefficient(CDC)modelnumericaliterationofsacrificiallayersco

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