离子注入掩埋双p-n结波长探测器的研究.pdfVIP

离子注入掩埋双p-n结波长探测器的研究.pdf

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2003年10月 第十二届全国电子束、离子束、光子束学术会 北京 离子注入掩埋双p-n结波长探测器的研究木 张秀荣1、盛丽艳1、韩德俊1、张保州2 (1北京师范大学低能核物理研究所100875) (2北京师范大学天文系光电仪器厂) Double Junction)波长探测器的工作原理是根据不同波长的 摘要:掩埋双P。n结(BDJ:BuriedP.n 入射光在硅中的吸收长度不相同,在上下两个p-n结上有不同的光响应。一般是在加反向偏置的 情况下,直接测量上下两个p-n结的光电流,得到光电流比值与波长的关系。但由于信噪比低, 这种测量方法不利于对弱光的探测。本文的实验证明借助锁相放大技术,通过测量上下两p-n结 的光生电压,也可确定波长,而且这种方法更有利于弱光的探测。 关键词:BDJ波长探测器光伏模式锁相放大弱光探测 一、 引言 掩埋双p-n结BDJ波长探测器是一种色敏器件,它由上下两个背靠背的p-n结构成,在可见 光范围内,两p-n结的光电流之比与波长成良好的正比例关系¨。2。J,能用于单色光的探测。与传 统的波长探测系统相比,BDJ波长探测器不需借助其他光学系统,就可直接从被测单色光中提取 功率和波长信息:BDJ的结构简单,可以由标准的CMOS工艺设计制作,易于实现与其他电子线 路的集成,符合小尺寸、低功耗的现代光探测器的要求。基于这些特点,BDJ探测器已在很多方 面得以应用,如M.sedjil等利用BDJ探测器检测溶液中酸碱指示剂的浓度来确定海水的pH值”J, G.MLu则作了铁离子浓度的测量”J。 然而,文献中所提到的BDJ探测器都工作在光电导模式下,即在两P—n结上加反向偏压,输 出信号是电流。这种工作模式不适于对弱光信号的探测,因为,漏电流随反向偏压增大而增大, 导致输出的散粒噪声增大.降低了信噪比。因此,为了提高探测器对弱光探测的灵敏度,我们在 测量中运用BDJ探测器的光伏工作模式,即两P.n结上均无外加偏置,测量各P—n结的输出电压: 根据光生电压与光生电流之间的关系,得到了光生电流之比与波长的正比例关系;同时,借助锁 相放大技术可排除外界杂散光的影响,进一步提高了信噪比,这为以后的弱光探测应用做了准备。 二、 原理 当半导体受光辐照时,若光子能量大于或等于半导体的禁带宽度,则半导体吸收光子(不考 虑散射)产生电子-空穴对。波长为^的单色光入射到p-n结上,在加反向偏压的工作模式下,p-n 结收集的电流可分为两部分:光生电流和暗电流,即 I=ID+IL (1) 其中,ID和1L分别代表器件的暗电流和光生电流。暗电流ID与入射光无关,而光生电流可表示为 IL=‰承r九J (2) 其中,咖。是入射光通量,R(^)是p-n结的光谱响应度。因此,BDJ探测器上下两p-n结的光电 +本项研究工作受到“863”计划(课题编号:2002AA313120)的部分资助。 2003年10月 第十二届全国电子束、离子束、光子束学术会 北京 流之比为 r;IL2:垒璺!!墨2;—R2(—X)(3) I。。 巾。承。f九,R。f九J 可见,光电流比值r只与入射光的波长有关,而与光通量巾。无关;并且,理论模拟和实验均证明 ““。1,在可见光范围内,此光电流比值r随波长增大而增大。这就是BDJ波长探测器的工作原理。 由式(1)可以看出,在测量过程中,小的暗电流有利于弱光信号的探测。减小暗电流的关键 是减少器件体内的各种缺陷杂质,保持少子寿命。这可以通过原材料选取和优化工艺来实现。以 区熔单晶硅为衬底材料、借助外部吸杂工艺的器件具有小的暗电流,适于对弱光的探测“1。但即 使这样,当光通量很小时,光电流可能小于暗电流,而探测器的散粒噪声与暗电流的平方根成正 比,此时散粒噪声在输出中的比例增大,即信噪比降低,进而导致BDJ探测器的光电流比值r的 不准确性。 在光

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