光纤剖面折射率分布测量新方法.pdfVIP

激光杂志》1999年第20卷第5期LASER ．鹗，运。 光纤剖面折射率分布测量新方法” 朱若各陈本永 ， (中国计量学院计测系，杭州 310034)(浙江大学机械系，杭州 310027) 提要：本文在简述逆几何光学理论基础上，讨论丁如何结台计算机图象处理技术根据光线轨迹得出光媒质的削面折射率分布 方法，并且用在改型干涉显微镜基础上建立的02D摄像显微镜实验装鼋作出验证，从而也提出一种光纤剖面折射率分布测量的 简便、易行、精度可靠的新方法。本文舟绍的新方法对如何保证目前已被越来越普遍地应用于光通讯和光纤传感器中光纤性能的 主要参数检测有十分显著的意义。 关蜒词：逆几何光学，剖面折射率，光学非均匀介质 for Newmethod terraetiveindexoffibre measuring profile 晶ⅣR㈣Che,iBMyong Instituteof Univers (CIaina MetroloRy)(zhejlangry) Abshjd：Inthis profileofopticl2ffcrncgeneo世rt删fiaissu魁ested嘶thebaseofinverserayop一 paper，amedodhrr哪咖耀rd幽index rmdifiedmtel-- 缸mdir雌即喊懈脚byrx3121ptll自MemMdethemethzdlst脚ed时aC03cmnxwamicr氆ozOewhic}1过se【印∞a and Therrethedis f∞enoe翻k∞s∞pe，t‰h话弘氆dthattheⅡ吼}0dmayhesin叫e easyto斜赫删喙hacetirate istIX)ItandnlQre usedin and cp6cfibre，which gemrAlyoptlcconmatmacationilhrP蛐鼢 阳精栅d Keywords：inver蟹rayoptics，refractiveindexprofile，optlca}iahcmaogenmusmedia 1序言 L一熊-yocosa0 所谓逆几何光学问题指根据需要的光线轨迹，如 cosT0 何构造非均匀媒体的折射率空间分布特性，从而一旦 工艺上解决了该类介质的生产问题，那么就可以使光 2(r))’JJ o。J(6) 五du一菩=(旦2五一了2＼一1一L1ld奠r(n 按预定的光线轨迹传输，在此基础上使波导光学及与 进一步简化后给出 此关联的光通讯和光纤传感得以形成和迅速发展．从 相同的原理出发，我们也可以分析光线轨迹形成的图 (7) 爱(“2+菩一掰(r)]=o 象边界线，给出非均匀媒体的剖面折射率这一衡量光 纤质量的最主要参数。