用正比管代替Si-PIN探测器测铜矿品位.pdfVIP

全国第十二届核电子学与核探测技术学术年会论文集 ofthe 12th on Nationa／ConferenceNuclear Proceedings Electronics＆Nulear Detection Teehnoi。gY 用正比管代替Si—PIN探测器测铜矿品位 童格后1，陆炜忠2 (1上海秋伊电子器件厂，上海201800；2中国科学院应用物理研究所，上海201800) 摘要：给出了一台sz～2x射线荧光分析仪上的si—PIN探测器用国产TX410薄窗高分辨正比计数管替代，测 云南某铜矿cu、Fe、S、siq的含量。结果和Si—PIN探测器、化学法三者作了比较。用正比计数管替代的那一台SZ 一2仪表在现场已24h连续工作2年多。 关t通：铜矿品位分析；x荧光分折；Si—PIN探测器；正比计数管 由于Si—PIN探铡器对”Fe(5．89keV)的分 辨率在200eV左右，又不用液氮冷却．用它作探 头制成的X射线荧光分析仪很受用户青睐，每 年都有不少单位争相进El，但价格不菲，仅前放 在内的探头部分要5万元人民币左右。其实， 迸口该类仪器的用户，根据我们的调查，并非都 有必要用Si—PIN探测器组成的X荧光分析仪。 例如，云南某铜业公司2001年3月进口了 一台SZ一2 X射线荧光分析仪．是Si—PIN探测 器．不久出了故障，无法分析矿上源源不断运来 的大批矿石．生产就此停顿，情急之中用我们制 作的TX410薄密高分辨正比计数管，及时替代 了Si—PIN探测器，分析该铜矿品位中Cu、Fe、 S、SiB的含量，生产得以延续。 从以上十组数据可以看出： 替代投产时，取十组参比样矿石磨成粉末， 1)除了个别带*点外，满足cu绝对差 压成片，x光机输出的x线激发压片，产生cu、 0．8％，Fe绝对差1％，S绝对差(2％，SiO，绝 Fe、S、SiO：等元素荧光作了对比测试，并和化学 对差3％。诸元素的所有点误差均(2．5％， 法作了比较，结果见表1。 符合矿方测量误差的要求。 上述对比试验中，Si—PIN探测器窗约 2)用Si-PIN测得的数据和用正比管测得的 7mm2，”Fe的分辨率240eV，X光机调至10kV， 数据误差在同一水平上。带*者Si—PIN有4 20“A，计数率约5000s～。 个，正比管3 TX410薄窗高分辨正比管铍窗直径 ÷14mm．厚25tam．”Fe的分辨率15％，Si同s 能分开，约75％的谷峰比(图1)，用环状”Fe源 激发水泥样品，含14％Sio：的谱与含9％Si05 的谱有明显差异(图2、3)，X光机调至13kV 50ttA。计数率约10000s～。 140· 所以，用正比计数管代替Si—PIN探测器是生产就此正常顺利进行。正比管从2002年5 可行的。 月替换至今未出故障，已连续24h工作了2年 基于以上十组参比样的对比试验，该铜业 多。 公司将一台SZ--2X射线荧光分析仪上的Si—PIN 所以，在一般性荧光分析中，用正比管也是 探测器换上了正比管