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静力触探曲线畸变的探讨 田 财 富 铁一院兰州分院 【摘 要】 本文结台某线不正常的静力触探曲线与正常曲线的对比分析、提出了曲线畸变．咀便今后静力 触探中出现类似问题进行判定和设计中应采取的对策。 【关键词】 静力触探单桥 双桥 曲线畸变 1慨述 静力触探(单、双桥)技术以其轻便灵活的特点和迅速快捷的获得多项土体的物理力学指标、 成果资擗曲线直观、连续、易于判定，勘探成本低等优点而得到工程地质界的广泛应用。静力触 探是通过锥端遇到的士体阻力和侧壁摩阻力与电阻应变片所组成的电桥相连．将电阻应变片的阻 值变化转化为土体的力学数值，成果通过静力触探曲线来反映。瞄线畸变是指静探探头(锥端、侧 壁传力部份及电桥)的不正常或探头灵敏度高低变化造成静探成果睦甘线变形而影响成果精度的两 种现象。某线地处第四处细颗粒沉积地区，水网纵横、地下水发育，适合静力触探技术的应用。本 文就谆线静力触探点Js一74和js一2l 2锥尖阻力q，曲线畸变和补检探孔的曲线(吼、p。)进行丁对 比丹析探讨。 2 两处静力触探曲线对比分析 在该线的赘料检查中，发现位于地势低渣，有软土分布的J，一7和J，--21双桥静力触探曲线反 映的锥尖阻力值不正常，曲线提供的阻力值(KPa)太小，按规范计算出的地基土承载力太低，使 勘探工作蒋无法进行。为了准确提供资料，为了确认和查明原因，在两处分别增补了两个单挢触 探}L和一个双桥子L，将原探孔和补检孔绘于同一圈上t参见图l、图2)，图1中虚点线为原双桥 曲线．实线为增补单桥曲线，图2中虚线为补检fL双挢曲线．其余同圈l。由图可见，先后两次完 成的触探成果曲线差异较大，这种差异究竟是怎样产生的呢?又怎样避免这种误差、误差产生后 如何解决呢?笔者在下面进行了分析探讨。 5E 。：j 1嘛o÷鼠：j你￡3。奄j 母z．75-2l～一I辛薯j篡溅对比蛋 此两处单桥均采用手摇型轻便链式静力触探化 该没备额定压力小(2T)，探头灵敏度高，曲 269 线正常，双桥采用!、_一1 6型双缸油压静力眭探仪．该设备额定压力大t 30T)．当探头锥尖遇到阻 力小的软土时，造成锥尖阻力曲线畸变。畸变可见两圈的益线对比．Js一72与j～?～】．．i．一21。 与J一2卜一l榴比较．Js一?。，Js一21。郎为畸变曲线。这稀曲线畸变不是反映在益线本岛．而是反 映在锥尖阻力的太小。图2是在同一地点．新换一积桥探头(J，～2l～1=j与原双桥『Js一11。)和 单桥静力触探(J一21一1)曲线的对比图，新换的双桥探头较晤双桥探头是敏度高，曲线与单挢静 s)500KPa之处．单桥与新换的双桥探头锥尖阻力比 力触探益线基本一致。但在锥尖阻力qc{P 约在1．5～】．8倍之间，其双桥探灵敏度明显偏低，也是曲线畸变的型态。但这种畸变与前者有区 别，前者(Js一7，Js一2】)是探头机械和电路部分失灵造成的；后者(Js一21～1)是单、双桥探 头的设计压力不同，在软弱土层中造成探头灵敏度的系统误差发生曲线畸度。圈2也反映当勘探 随深度增加，穿透软土层时，土层给予探头锥尖足够大的反力值后，这种系统误差将随之变小．使 单、双桥静力触探蓝线趋于一致，瞳线畸变降至忽略不计的程度。 为什么造成Js一74和Js一21”的曲线畸变呢?经检查系原双探头在地下水发育地区作业，后将 探头放置几日，探头锤尖与传力柱因进水产生锈蚀粘联，这种锈蚀牯联遇刊小的阻力土层时-不 足以打开锈蚀粘联造成曲线畸变。诙两处的静力触探点所使用的数字测力仪及先后使用的静力触 探双桥探头均为新购进的。对曲线畸变的分析对比有说服力。 从图1和图2的对比分析可判定．该两处上覆2．0m的硬壳土层，下伏软土厚(q。，P。 800KPa)约12．5～13．8m，其中撮软层(q。，艮500KPa)设计中应予重视。 3结束语 3．1静力艟