a-Si+FPD在闪光X光照相中的成像性能实验研究.pdfVIP

a-Si FPD在闪光X光照相中的成像性能实验研究 肖智强 FlatPanel 摘要：非晶硅平板探测器(a—Si 相中得到了广泛应用，但在脉冲式(ns级)的闪光x光照相中的应用可行性及成像性能却未见报导。 2520 本文利用Varian公司生产的PaxScan 光机上开展了闪光照相实验，考察了该探测器的应用可行性，测量了其探测灵敏度、像质计灵敏度、 灵敏度高，空间分辨率好，是一种有前景的闪光x光照相图像接收系统。 关键词：a-SiFPD；闪光x照相；可行性：成像性能；实验研究 1引言 图像接收(探测)系统是X光照相系统中的重要组成部分，它的性能指标对图像质量和最终测 量精度有重要影响。在1997年的北美放射学会年会上(’97RSNA)，一种崭新的技术引起了人们的 广泛关注，这就是直接数字化射线成像技术(DirectDigtized PanelDetector， 心是平板探测器X射线接收系统n圳，此系统由外形像胶片暗盒的平板探测器(Flat FPD)、高性能显示器、图像处理计算机和电缆、与计算机的连接卡、图像处理软件等组成。此系统 可将x射线转换为电信号，从而实现数字化，并可进一步在计算机中进行图像处理。根据能量转换 方式的不同，平板探测器x射线接收系统分为间接型与直接型两种。间接型FPD的能量转换(信号 传输)过程是：X射线一转换屏一可见光一非晶硅光电二极管一电子信号一A／D转换一数字信号； u 目前平板探测器的最小像素尺寸可达70 lOmR之间，分辨率指标一般为3．Olp／mm～4．Olp／mm。 平板探测器具有探测灵敏度高、线性程度好、成像实时、直接数字化等优点，已在工业无损检 测和医学放射成像等领域得到广泛应用，并获得了很好的评价，有大量的文献发表，涉及FPD的应 用、性能等各方面。但目前平板探测器系统几乎都是在连续、静态x光照相中应用，在ns级闪光x 光照相系统中的应用研究却很少，有关的文献资料也很少。闪光X光照相是X射线成像领域的一个 重要方面，因此考察平板探测器在闪光x光照相中的应用可行性、成像性能等有重要实际意义。本 文利用a—Si FPD为接收系统在中能脉冲x光机上进行了闪光照相实验，进行了这方面的探索。 2实验设备 Model 采用的闪光X光机为瑞典生产的Scandiflash 450S型软管X光机，其技术指标为：打靶 6．19×10’6 C／kg(24mR)。 采用的平板探测器为Varian公司生产的PaxScan2520HE型探测器，主要包括探测器、命令处 理器、电源系统、计算机、显示器、信号传输电缆及光纤等部件，如图l所示。该系统名义技术指 标为：探测器类型，非晶硅；x射线转换屏，CsI：T1；成像面积，250×200 mm；像素尺寸，127wn； 最大分辨率，3．94 A／D转换，12位；非均匀性，1％(校正后)。 1n7 a)控制系统 b)探测系统 PaxScan2520 图1 HE型平板探测器系统组成 1命令处理器，2探测器电源，3光纤与电缆，4铅屏蔽板，5图像接收区 3方法与结果 实验中x光源至探测器前面板距离固定为2m，被照样品紧贴前面板放置。由探测器控制系统输 台阶法考察探测灵敏度。在探测器前面板前放置Fe台阶进行照相，得到的典型图像如图2所示。 根据x射线平均能量、Fe的质量吸收系数及照相几何距离，按照x射线在物质中的衰减规律可计