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电子设备加速寿命试验优化设计方法研究 易当祥‘刘春和’王肇赢1封艳文1 (1．清河大楼子八，北京。l00085；2．二炮工程学院，西安，710000) 摘要通过变量转换确定线性极值分布及其参数．采用极大似然估计法。以寿命分布户阶分位数估 计值的渐近方差最小为优化目标函数，考虑约束条件和均匀正交设计要求，建立了优化设计模型， 运甩Monte—Carlo方法对获得的试验方案进行模拟评价，提供电子设氰恒加试验的优化设计方法．以 电连接器为实供，计算结果表明优化设计方法可以减少样本数量和成本，缩短试验时问． 关键词加速寿命试验；优化设计；极大似然估计：模拟评价 1弓l言 加速寿命试验对产品采用比正常条件更恶劣的应力进行试验，在不改变火效机理 的要求下，使产品更快失效，节省试验时问和经费．通过对试验结果的分析外推至正 常水平获得寿命特征。为了保证试验结果的准确性，要求最高应力不改变失效机理， 最低应力比正常水平高但尽可能接近正常水平，并合理分配加速应力水平和试件数量， 是试验设计的重要内容【I】。特别是对较为昂贵的电子设备，不可能有大量的样本开展 前期摸底试验和加速试验，需要研究一种试验方案能反映更多产品信息量的合理优化 的试验方法。电连接器是航天飞行器的薄弱环节，以此为对象研究电子设备恒定应力 加速寿命试验优化设计方法。 2失效机理分析 技术资料表明，住符种珂：境戍力的影响卜，渝皮、泓度祠J振动所引起的火效IIl’所 有环境应力引起失效的86％。航天电连接器主要失效模式为接触火效，贝体表现为接 触对瞬断和接触电阻增大，对温度、振动应力相对更为敏感。造成接触失效的原因， 有接触压力不足，或由于铜表面在大气环境中生成的氧化膜厚度较大，发生化学反应 或电化学腐蚀，生成硫化物和铜化物。真实贮存环境中S02的含量很低，以氧化膜对 接触电阻的影响为主。主要考虑温度和振动应力作州。卜．的氧化物生长速度，郎可反映 出电连接器接触电阻的增＆情况12l。瞬间氧化腐蚀物的生长速度为： ac．：D--V·％’％dt (1) 式(1)中v为反应速度常数，与反应物的浓度无关，但与温度、振动应力却关系 密切。 由化学反应理论可知，从反应物转变为生成物的过程中存在一个能量势垒。反应速 ·148· oC 度常数v与活化分子的频数之间存在ve-El(‘r’的关系；由于振动应力的存在，使得 基体铜合金不断裸露，促进反应速度的加快，寿命与应力存在逆幂律关系VoC酽：那 么在环境温度和振动的综合作川。卜．，氧化腐蚀物的生K迷皮与温度、振动应力11勺火系 为： v=入SoP一￡“‘7’) (2) 式(2)中，占为激活能，七为玻尔兹曼常数，?为绝对温度，S为振动应力，Q为 待定系数。 将式(2)代入式(1)中，有： df：彳鼻s-aet／(kr)dC“，。一… (3) ·天c己·Co， 对式(3)积分，并令。 c“．。 ，可得： J|= 九C“4·Co： (4) 电连接器产品寿命分布服从二参数的威布尔分布，其概率密度函数为： (tO，mO，110)(5) }(∥‘哪【一(})。】 式(5)中，m为形状参数，T1为尺度参数，不改变失效机理，则要求m保持不变。 S将温度r和振动s转换变量，式(4)可转化 7．，Y=In 若令毛=Int。并按一1000 为更具一般性的线性一极值统计模型： 导=u(x，y)兰Yo+?ix+|r2