快重离子在石墨中引起表面和体径迹的STM研究.pdfVIP

第七届全国固体核径迹会议论文集 快重离子在石墨中引起表面及体径迹的STM研究+ 刘杰1． 1中国科学院近代物理研究所，兰州，730000 2 tilt Gesellschaft 1 Schwerionenforschung(GSD，Planckstr．I，6429Darmstadt,Germany 关键词：重离子，HOP(}，STM，辐射损伤，径迹 摘要：本工作用多种快重离子辐照高定向石墨，通过扫描隧道显微镜系统研究了表面及 体内缺陷，结果表明离子在表面及体内都形成了小丘状的缺陷。且在表面较容易形成， 可以用非连续损伤径迹结构来对其进行解释． 一．简介 离子辐照高定向石墨(HOPG)引起的损伤已得到了广泛的研究，其方法包括 Rutherford背散射技术，电子自旋共振，光电子和Rarnan谱，电子显微镜和扫描隧道显 微镜(sm)’其主要原因是石墨可以用做核反应堆的缓冲和屏蔽材料。 石墨是一种六角，层状晶体，相邻层之间是依靠vanderWaals力结合的，层间距是 0．335 nm；而层内原子是以共价键结合的．最小原子间距为O．142nm．前者远大于后者．这 种层状结构使石墨具有各向异性的物理特性．即与层平行的方向具有高的热导和电导．而垂 直方向较弱。另外，可以很容易对石墨解理出具有几百nm的光滑表面，使STM即使在空 气中也可以得到晶体原子分辨象。 过去，许多小组曾利用STM研究HOPG暴露于各种离子束下引起的纳米尺度缺陷，大 多数研究涉及到的是eV到keV能量范围的离子，与靶原子的弹性碰撞是主要的能损过程 【l‘4】，只有少数研究用的是每核子几个MeV的快重离子．它是通过与靶电子的非弹性碰撞 引起靶原子激发和电离来沉积能量的【5，6】。在研究石墨中的径迹形成过程时，必须考虑其层 状结构的特殊性质，如果离子辐照垂直于样品表面，主要能量沉积是通过沿粒子路径Ⅱ．电子 在层内快速扩散，类似于金属中的电子。但是，是否大的能量沉积在表面和体内能引起径迹 仍是一个未解决的问题．值得注意的是，到目前为止用TEM没有观察到体内径迹【7】。 本工作系统地利用STM研究多种MeV到GeV能量范围的重离子在HOPG中表面及引 起的损伤【8】。 二．实验 Ceramics HOPG样品是由AdvancedCo．提供的．辐照前沿(0001)方向做解理，先后用 ‘车工作部分受到国家自然科学基金资助 f5| 第七届全国周体核径迹会议论文集 ions／cmZ．s，剂量选择 HL!，GS[，Germany)在室温下垂直辐照样品．离子束剂量率低于4x108 样品之前，以改变入射离子的能量和能损。粒子穿过降能片后的能量、电子能损s。和核能 损S。值是由TluM92程序计算的。应该说明的是由于该程序是针对随机靶进行计算的。处 理各向异性材料时会有一定的误差。 经辐照后的样品用～台s1M进行观测．扫描所用的针是由细的P仉r丝通过机械研磨的 方法自制的，实验中不断的在同一样品表面未辐照区域检测针的质量。SrM是在空气中、 恒流模式下运行的，典型的偏压是250mV．隧道电流是InA，扫描频率是3Hz。 除了观测原始辐照表面外．在某些情况下对样品解理。同时观测体内径迹．解理过程中， 样品保持在支架上．通过解理前后显微镜千分尺的读数得出解理层的厚度，其精确度大约是 ±1tun。 三．实验结果 U离子(1．19Oev)和Ni离子(110MeV)辐照HOPG后的扫描隧道显微镜像见图1．可以 看出原来光滑的表面上随机的分布着一些互相分离的辐照区域。亮的部分表示高出样品表面 的小丘，而其右侧暗的部分是由于显微镜扫描反馈回路造成的。图2给出了同种U离子入 射后高分辨的sTM图像。每一个突出部分被未受干扰的晶体点阵所包围，点阵常数为 a--0．246 mn，是典型的六角石墨结构．而在缺陷区域．晶体点阵被破坏． U