乙烯共聚物EDAM低温FTIR研究.pdfVIP

第l8卷，第4期 光谱学与光谱分析 V01．18，No．4，pp63—64 ：：：!王!旦 兰罂：：：：：：：2：：：!兰2：：：：：!垒：：!鲨：： 垒：§坚：：：!： 乙烯共聚物EDAM的低温FTIR研究 徐怡庄1 胡先波2 康 宁2 张辉平2 翁诗甫1 许振华， 刘学新z 徐端夫z 吴瑾光、一 徐光宪- 1北京大学化学系，稀土材料化学及应用国家重点实验室，100871北京 2中科院化学研究所，高分子物理开发实验室，100080北京 高聚物的结晶性是高分子聚集态结构研究中的重要课题。我们用亚甲基的rocking谱带对聚乙烯及共聚 物结晶性和多晶型行为进行研究m“，结果表明，采用lcm。1分辨率的光谱测定才能较好的分辨单斜晶型和正 交晶和非晶区等各组分的相对含量时，由于谱带重叠严重，光谱曲线分峰拟合时的多解问题不易解决，本文 用低温光谱法对Poly(ethylene—CO—dimethyaminoelhylmethacrylate)简称EDAM进行了研究。 EDAM洋品用熔压法和溶液成膜法制备。 晶型聚乙烯振动谱带730，720cm-1及单斜晶型的717cm_1谱带均发生了不同程度兰移。这种兰移是由于样品 温度下降，晶格收缩，分子间相互作用增强所致。(2)温度下降使谱带锐化，强度明显增加。因而使原本与无 720cml谱带左侧的一个肩峰而可从原谱中直接辨认。它们相应的二阶导数谱的分辨能力也明显增强。因此 低温光谱可提高光谱的分辨本领，使谱带重叠问题得以改善。 在此基础上，本文用光谱曲线分峰拟合法[4 精细结构。结果表明，样品中的非晶区含量几乎不随制备方法的改变而变化，但单斜晶型含量却随样品制备 方法改变而有明显不同，样品中正交晶型含量也有相应的变化(表1)。分峰拟合结果还表明，正交晶型的730 和720cm-1谱带强度的比值不是一个常数，此比值随棒品制备的条件的不同有明显的差男0【表2)，缓慢冷却 试样结晶的相对强度比值为1．2，与高密度聚乙烯的比值相仿．而淬火样品的相对强度比值为2．4～2．9，与聚 乙烯比值的差别显著地大于实验误差和曲线分峰拟合计算误差。由于720．730cm-1谱带的相对强度比与晶胞 内分子排列有关，这一比值随样品制各条件变化而变化意味着它们相应的晶区结构是不相同的。 低温光谱还表明，730cm叫谱带宽度随EDAM样品的制各条件的不同有明显变化。熔压淬火试样谱带最 宽，溶液成膜缓冷试样谱带最窄，720cm-1谱带宽度也有相应变化(表3)。 表1不同制样方法所得的EDAM中各种堆砌的聚烯链段的含量 **通汛联系人．*本课题获国家攀登项目，教委博士点基金和国家自然科学基金．中科院九五重点项目基金 稀士材料化学及应用国家重点实验室，高分子物理开放实验室基金的资助。 光谱学与光谱分析 第18卷 740 730 720710 740730 720 7JO 原始光谱 “cm 二阶导数谱 v／em 图1 经热压淬火处理的EDAM的rocking谱带的常温和低温光谱 表2高密度聚乙烯和不同制样方法所得的EDAM中720，730cm叫谱带峰面积比 表3不同方法制备的EDAM中730，720cml谱带的半高半宽 上述结果证明不同制样方法或不同结晶过程可明显改变EDAM晶区内聚乙烯链段的排列方式及晶区的 完善程度．高分辨低温红外光谱是揭示高分子结晶性物理本质的有效手段。 参 考 文 献 1 H，StraussHLand Hagemann SnyderRGMacromolecules，1987；30：2810 2 RG，PeacockAandMandelkern HagemannH，Snyder J Macromolec