稀土钕铁硼永磁材料元素分分析仪探究.pdfVIP

1一’ 按语：存围冢计委稀￡办的指导F，经机械工业部稀土办和全国稀土永磁电机 协作网组织，j}发了钕铁硼材料元索测试仪。该仪器对控制钕铁硼材料质量， 具有重要意足；希望有关单位予以支持，并在行业推广应用。 nI，z7弓 下㈤厂、|乙3 全国稀士永磁电机协作网 稀土钕铁硼永磁材料元素成份分析仪研究 牙j毒 稀上永逝材料测试仪研制组 摘要：车I乏针对№一＆一8永融材料的成份控制所需求，开发出能够从原材料直接取样分 析．，：盎缝化学处理，即可同j剐出№F。B中．吼，F．，D。，^i，Si，‰，Ni等20余 种元袭 、；韧?。的重短精度RSD‘％，萁它元素的精度5％一：0％．本文研制成功的能 量色教荧光丹折仪创造性地并发出镪。2；．同位素溶和T：趺缎靶‘二神光源台一的组合光源， 荧光肘粜经过siL。J垛删器．多道毖谱仪，微机分析糸筑，打印机打印．本仪器结构紧凑， 骨斩，}骤简便，是N。一F．B材料抒忻用先进宾用的手段， 笑键刊能量色敞x时线荧光丹断，‰一F．一B稀±永磁材料，Ti次级靶，组台光源． ～一一一。-——————…。～ 一、引言 N。一F。B鞴上永畦材书}碰陛能控制，首要的是成份控制．现在国内Nt—Fe—B成份分析， 主要采用的自化学分析，等离子发射光谱，分光光度计等方法。上述诸方法中，任单一方 法都不能实现直接取佯，一次完成全酃元素分析，还免不掉化学溶解分离等预处理手续． 正因如此，k—F·一B材料成份分折窦验室中，不可免的就要配有多种多台仪器，每次分析 都要经过数名人员较长时问的分析操作，分析数据人为误差大，总体效果也不尽人意． 先进的稀土材料厂，广为采用了x射线荧光光谱分析仪，至今是最佳装备。 选用芡光漕仪时，需要用户加以区别，荧光诺仪还有二种类型，其一是波长色散荧光 谱仪，它是用x光管源激发，必需经过晶体分光系统，而后还具有扫描的探测器和计算机 数据处理等几邬分组成。另一种是能量色散X射线荧光光诸仪，它可用X光管源激发，也 可用放射性同位隶激发出荧光光诺．后经不需扫描动作，丽分辨率高的Si(Li)探测器， 而后是多道建漕分析仪，计算机等几部分。更有幸者，随近代物理所用高分辨率Si(Li) 半导体探测器和计算机的完薄，能量色敞谱仪州荧逛漕的总翰蚋效率c耍比波氏色散谱仪 更高，这必促使能量色散谱仪整潍结构廷紧凑，性麓弛龙．操作简雁．沂{f}}低．由此碾得 生产No-F。-B的用户更强的选用优势。 二、仪器建立 本文研制的《能量色散x射线荧光分析仪》是采用谓2：j救刺倒fi豢狐翱铁次缎靶 低能量X光管源，二者合或组合激发光源：台戚矗iY¨i々，t源，匠熊母丧：Ⅲ‰一F一一B材料 中稀土元素荧光谱线，又能激发Si，AI．虬F。等的戈丸；艇§， 素K屡电子电离形成空穴，当稀L元素瓤子坟激发返回琏态：!十‘隹《·’子种稀t兀豢各有不 同k能量的荧光谱线，用能量分排翠优良的s：．L：-捧删器!《，芝，后纶多避能诺仪和186 Jl§数据处理软件。 计算机由1600K打印．所用软件是国际原子能机均’I垣、’盟烘的^×IL 241f、锈钢岛源和铝准直器 图1是镯一24l源激发测量示意罔，它由l1、咖_11C!^’n 组成；射线源，样品面．抓头互成j5e蔓国 源‘蜀嗣裔加瓣陆蔽．÷=-{。执：测I话侔活P圭l蓟 65eV。 2 F茸l