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zn:Ce:LiNbO。晶体的生长及全息性能的研究’
5
杨春晖王锐王继扬+
(哈尔滨工业大学应用化学系,哈尔滨,150001)
(+山东大学晶体材料国家重点实验室,济南,250100)
l Cel LiNb03
摘要采用Czochralski法生长zn
2.8 Zn。ce:LiNbOs晶体的还原处理
晶体,测试晶体的指数增益系敷、衍射效率,实现了实
时关联存储。 ce离子存在两种价态,Ce3+(施主)和ce什(受主
或陷阱).为了增加施主(Ce件)浓度进行还原处理,将
关键词zn:Ce:LiNbOa晶体全息存储衍射
效率 晶体切成IOXl0X
中进行还原处理,还原温度为500C,保温时间20h。
1引言 还原后晶体颜色变深,Ce4++e=Ce”。
光折变晶体全息存储的应用研究成为当前国际
3 Zn;Ce;LiNbO
3晶体性能测试
上研究的热点,掺杂LiNbOs晶体作为光折变全息存
t
3.1 Zn:Ce
储的首选晶体材料的主要理由是: LiNb03晶体指数增益系数的测试
(1)掺杂LiNbOs晶体在未做固定处理情况下,全
息记录保存的时间长(1个月以上),在此时间内足可 光折变晶体指数增益系数是晶体在信息存储过
完成大数量的数据的写入.而其它光折变晶体只能保 程中,把强的泵浦光能量转移到信号光中的体现。较
存几分钟。 大的指数增益系数可以使信号光有较大的放大倍数,
(2)易生长光学质量高的大尺寸的晶体。 信号光再现时变得更清晰,且有较大的位相共轭反射
(3)容易进行全息记录的热固定处理.处理后可保率和衍射效率。所以指数增益系数是衡量光折变晶体
光折变效应的重要的指标之一。
存二十年以上。Fe;LiNbO,晶体作为光存储材料,
获得了好的结果“。],但其易产生光感应“扇形”噪音 (1)指数增益系数计算公式
实验上测量二波耦合指数增益系数表达式为
光散时,对光折变器件输出的图象或数据产生严重的
畸变伽。 r一{_,。f驿1。{_·。f¥1
L 、~衄, L l~,
对掺杂znCeLiNbOs晶体既有优良的光折
式中I-’与1z7是两束光之间存在耦合时的透射信号光
变存储特性,又具有无扇形噪音光散射和响应速度快
强,It与Iz分别是没有耦合的相应的光强。式中的
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