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Sm-%2c2-Fe-%2c14.5-Cu-%2c0.5-Ga-%2c2-C-%2cx-快淬带磁力显微镜研究.pdfVIP

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1999年 第十届全国磁学和磁性材料会议论二己集 237 SmzFea。5Cun。Ga2C,快淬带的磁力显微镜研究 ■I-r 孙志刚,张绍英,张宏伟.韩宝善,沈保根 (中同科学院物理删究所和凝聚态物理巾心雌学田家重点实验室,北京,100080) L●r■■r■I 奉义用磁力址微镜研究J’sm 柯{糙度的分析。结祟表明PSD分析是处耻矗鲢,』幽的利-角放办i三.n』以定量描述这利t挑泞带的碰畴结构,为将艟l畴结构 J磁降能的关系研究分析r形』垃磁力图小I.J计度的臆引.指廿IMFMaJ作为分析 。7融盹能联系起来提供。,能性。从磁力刚l 磁性能的一种手段。 -■■■r■I 1引言 r force 的磁性能不仅对其显微组织敏感,对磁畴结构也十分敏感。本文j{j磁力显微镜(magnetic e_.jcu..sGa:C、的微结构和磁畴结构并 microscope,简称MFM)自J[究r快淬稀t一铁金属问化台物材料sm:F 对其与磁性能的关系进行r讨论。 2实验 MFId。’采用两次扫描:第次是轻【1IJ模式,测表面形貌:第二次采_l_[j抬举模式,测磁力梯度,这样町 同时测得样品表面同一K域的形貌图和磁力图。在动态模式中,探针在样品上方扫描时,受到表面 磁结构的磁作用力,其共振频率r及位丰目m会发生偏移,磁力(梯度)蚓中显示的止是△f或蛳。我们实验 Q/k。在一个简化的模型中”‘,即如粜体内产生的杂散场与 中测得的是I划定频率下的相移△m=F,7 表面磁荷产牛的杂散场相比町忽略不训日J, F’。。mhple。n争s 其‘}。d。。=j。。。H是样品表面的臌仙密度tJ。+址样^&的融极化强度。中,m址磁针产生的越标茸势。 如果!兰£是卒间的局域函数的话(通常情况F作这种近似是合理的),那幺磁力图给…的相移将反映 2 Pz 实验所川样品A,B,c的成分1’芝条什干¨利结构见表I。快淬带宽约:q2-3mm、厚约为:{()um,。永 磁性能的研究旭参考文献“,蜊丁M川实验{{J『究的快淬带没白进{J:仟何表面处珲,实验是祚样t目,的自由 皿上进行,抬举高度为30nm。 表1样品编:j年u成分,l艺条件和相结构 l样品名称 成分 1:艺条件 相结构 A S眦Fell。Cu【_jGa:C¨

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