XHTF5160型晶振自动测试系统.pdfVIP

XHTF5t60型晶振自动测试系统 柬斌橱健成东兵袁光文 四川星华时频技未有限责任公司 信息产业部 国营八六七厂 摘要本文介绍了一种能自动测试256台晶振的测试系统，对系统的主要技术性能、原理圈 工作过程作了说明． 关键词：晶体振荡器、自动测试系统 l、概述 本文介绍的XHTF5160型晶振自动测试系统由公司己经研制成功并投入使用．本系统 等组成。可自动对256台晶体振荡器的额率准确度、短期稳定度、压控特性、开机特性、重 现性、日波动、日老化率等主要技术指标进行铡试。本系统设计思想先进、自动化程度高、 系统结构紧凑、测量精度高、使用操作方便，最适合批量生产和使用晶体振荡器的厂家使 H|。 2、系统主要技术性鸵 2．1测试晶振数量：2～256台 2．2测量频率：IOOKHz～50MIlz 2．3测量精度： 2_3．1频率测量分辨率：12位，秒 2．3．2晶振切换损失：△6(T)≤3E-1l，s 2．4压控电压设置范围：．5V～+SV(分辨率：10mV) 2．5压控电压误差：±20mV 2．6直流电压：+12V_3％．+5V±3％(供晶振用) 2．7切换时间 2．7．I每路澳r试时间：1秒～99分钟．步进1秒 2．7．2测试256个晶振循环一次测试时间：2分钟～99小时，步进1分钟 3、测试项目 3．1频率准确度{ 3．2日老化率(频率漂移率)，并给出老化衄线； 3．3短期稳定度(阿仑方差)； 3．4开机特性{ 3．5频率重现性； 3．6压控特性，压控线性度； 3．7丑波动{ 3．8抖动。 4、系统配置及基本工作原理 4．I系统配置 标、4个晶振测试机柜等组成。每个机柜内有晶振所需+5v、+12V电源、控制扳、可程控 的压控电压，晶振测试板，可测试“个晶振。系统原理框图如图一所示。 XHTF5160晶振测试系统框图图～ 4．2基本一r作过程 根据对晶体振荡器技术指标要求，利用键盘或鼠标人工进行各种参数设置。参数设置 包括被测晶振标称频率、每路测试取样时间、取样组致、测试该批晶振的循环时间、被测 品振的中心频率所需的中心压控电压、披测晶振技术指标的上、下限值等。参数测蠼时可 某个指标单独测试，也可编程测试。编程测试即对晶振所需渊的各项指标．根据并指标测 试的顺序、测试时间进行参数设置。系统将按此设置进入自动进行测量。测量完后保存测 埔数据，系统根据测试结果．按照指标的上、下限值要求，自动对合格与不台格的晶振进 行分类。操作人员只须将参数设置好，以后的测量全部由计算机自动控制，完成溯试。 4．3操作界面 操作系统为WINDOWS99平台．中文界面，人机界面直观，操作简单、方便。 具有轰询打印功能。对测试结果可联机查询，也可打印输出。可单行指掘查询，也可 全部查询。输出格式采用制表方式，输出清楚明了．可打印输出全部溯量结果，也可按需 输山打印。 5、结柬语 XHTF5160测试系统研制成功井在我公司和西安大唐电信投入使用。该系统的使用大 人减少了原来人工测试和计算统计的工作量，大大提高了工作效率，并减小了原来人工测 试带来的测量误差。 2001年9月 2iS