动态接触电阻测量及触点失效预测研究.pdfVIP

第 24卷 第3期 电 工 电 能 新 技 术 Vo1．24，No．3 2005年 7月 AdvancedTechnologyofElectricalEngineeringandEnergy July2005 动态接触 电阻测量及触点失效预测研究 陈 鹏 ，陆俭 国，姚 芳，李 新 (河北工业大学，天津 300130) 摘要 ：用动态接触 电阻测量 系统进行 了电磁继 电器失效检测试验 ，监测 了其触点闭合过程 的接 触 压 降。试验发现 闭合过程的触点接触压 降为随时间复杂变化 的衰减波形 ，经历 了由动 态的弹跳 、 微振动再到静态的过程。数据分析表明：继电器接触失效与闭合过程的弹跳 时间及接触电阻峰值 有一定关系，可综合考虑弹跳时间一操作次数曲线及接触电阻峰值一操作次数曲线的变化规律对继 电器触点进 行失效预测 。 关键词 ：电磁继 电器；触点；失效预测 中图分类号 ：TM501．3 文献标识码 ：A 文章编号 ：1003—3076(2005)03—0027—04 1 引言 2 继 电器失效检测试验 触点是有触点电器的关键部件 ，触点性能的好 为实现继 电器触点失效的预测进而找出继 电器 坏直接关系到有触点电器的工作性能和动作 可靠 触点的失效机理，本文用动态接触 电阻测量系统进 性 。现代化大型电力系统、自动控制系统、遥控遥测 行了HH52P型电磁继 电器可靠性试验，监测了继 电 系统、通信系统等电气系统中触点电接触无处不在， 器触点闭合过程的接触压降。图 1为测量系统的硬 触点数 目常常数以万计，若其 中一个或几个触点工 件结构。该测量系统以工控机为核心，配以模块化 作失效，会导致整个系统工作瘫痪 。对 于航天、钻 电路 ，能对试 品线圈、数字记忆示波器进行实时控 井 、电力系统等一些关键场合中的开关电器，对触点 制。由于触点闭合时触点压降相 当小，测量 电路采 的要求更高，不仅要求它们的总体可靠性高(较低的 用 5A短时脉冲电流测量触点间接触压降，以减少 失效率)，而且要求关键时刻触点不能接触失效。因 干扰误差的影响。试验过程 中，可随时测试接触压 此触点失效预测的研究对提高有触点电器的可靠性 降，记录当前试验操作次数及试品触点的所有试验 乃至工业生产具有重要意义。预测在许多领域都有 记录。试验采用截尾寿命试验，DC24V，电阻负载 ， 广泛的应用和研究 ，有的领域已经达到实用的研究 4对常开触点置于调温调湿箱 中，监测 了闭合过程 水平 (如：天气预报等)，有些领域还有待进一步的研 的接触压降，一般间隔 10万次记录一次。 究 (如：地震预测等)。因此对触点失效预测已成为 可能。要实现有效预测 ，首先必须掌握触点失效前 其特征量的变化规律 。 l 四对触点 l 本文用动态接触 电阻测量系统…对继 电器触点 进行了可靠性试验，试验监测了触点闭合过程的接 r[ 触压降。大量试验数据及其分析结果表明：继电器 触点失效与其闭合过程的相关参数有一定关系，为 进一步实现接触失效预测奠定了基础。 图 1 动态接触电阻测量系统的硬件结构 Fig．1 Dynamiccontactresistancemeasurementsystem diagram 收稿 日期 ：2005—01—30 基金项