滤波连接器电容器失效模式研究.pdfVIP

2010年中国电子学会第十六届电子元件学术年会 滤波连接器电容器失效模式研究 田蔚 李振 50009) 贵州航天电器股份有限公司(贵阳5 摘要·本文主要研究蟪寝连接晷中使用的穗玻电客墨失敢的各种厚因及情况，深 入研究7电容墨从生产到装配整个过程可能发生失效的因素．…起电客器失效的原因 多种多样，电容器的材料 结构、制造工艺、性能和使用环境备不相同，失效机理也 各不一样。电容嚣的常见失效摸式有：介质击穿．开路 电参数变化(包括电春量超 羞、损耗角正切值增大 绝缘电阻下降或塥电流上升等)、表面飞弧等．电容器击穿 开路等使电容嚣完垒失击工作能力的失效属致命性失效，其余一些先鼓台使电容器不 能满足使用要求，井逐渐向致命失效过度，影响系统的可靠性．因此为防止电容器失 效，应重点差注电容器的出厂检验和产品生产装配过程的控制。 关键词失效模式，裂纹，撞验分析，滤波插座 l引言 滤波连接器tp的电路形式分为C型、L型、m型、T型等基本电路形式。电路中的滤波 电容器无疑为核心元器件。它的性能指标直接关系到滤波连接器址否能萨常T作。因此， 在产品设计、过程检查等各个环节．需要充分考虑滤波电容器的保护，防止其失效。 电容器失效的影响是极其恶劣的，轻则滤波连接器不能达到应有的设计功能，影响整 机正常T作，重则电容器烧毁，其至整机烧毁。因此，滤波连接器设计时。要掌握电容器 的失效模式，使用最大的手段，尽可能的避免电容器失效。 奉文阐述了电容器失效的各种原因及失效情况，深入研究丁电容器从生产到装配整个过程 可能发生失效的因素，井提出了一定的解决方法。 2电容器失效模式及失效机理 2l电窖器失效棰式 目前，滤波连接器中使用到的电容器．主要为管状电容器和板状电容器。 管状电容器是一种通过特殊工艺挤制出的圆柱形陶瓷管，在陶瓷管内外壁上烧结银电 极，形成管状电容器的两极。 板状电容器为片式多层陶瓷电容器(MLCC)。足…印制好电极(内电极)的陶瓷介质膜 片以错位的方式叠台起来，形成多个电容器器并联．经过一次性高温烧结形成陶瓷芯片． 再在芯片的两端封上金属层(外电极)而形成(电容器结构见图1)。 目I电容器结构 184 2010年中国电子学会第十六届电子元件学术年会 电容器的常见失效模式有：介质击穿、开路、电参数变化(包括电容量超差、损耗角 正切值增大、绝缘电阻下降或漏电流上升等)、表面飞弧等。电容器击穿、开路等使电容器 完全失去工作能力的失效属致命性失效，其余一些失效会使电容器不能满足使用要求，并 逐渐向致命失效过渡，影响系统的可靠性。 通过外观检验和电性能检测，可以确定大部分电容器失效。通过放大镜进行外观检查， 如果发现电容器有裂纹，表面有异常污染物，则电容器存在失效隐患；通过电性能的测试， 如果电性能变化异常，如绝缘降低、耐压不良、电容量损耗角异常等，电容器也存在失效 隐患。对有失效隐患的电容器需隔离，条件允许的可进行进一步分析。 2．2电容器失效机理 引起电容器失效的原因多种多样，电容器的材料、结构、制造工艺、性能和使用环境各 不相同，失效机理也各不一样。同一失效模式有多种失效机理，同一失效机理又可产生多种 失效模式。 ＼ 、 ＼ 金属离子迁移 部分层‘—一—— 磊笋 ＼＼．．竺笙型竺么堡竺兰垦＼．．竺笙型竺么竺竺兰垦 烧结过程失控＼ 陶瓷介质内空洞 材奉4污染 内在因素