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第六届中国纳米科技两安研讨会论文集
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ZnO纳米线的可控生长及其发光特性研究
贺永宁王东商世广李昕朱长纯侯洵
(西安交通大学屯子与信息T程学院,710049)
摘要:本文利用高纯锌粉氧化的气相输运工艺进行了ZnO半导体一维纳米线的生长制各研究.在常压下
生长湿度6000c在盲口石英舟中得到了形貌一致、产量高的ZoO纳米线;利用ZnO纳米晶作为耔晶层,
在低压下生长温度600。C条件下在硅基片上制各取向性znO纳米线.这两种纳米线的光致发光特性研究结
果表明,商纯高纯锌耪氧化T艺所制备的zn0纳术线,其紫外带边发光光强远大于缺陷发射光强.直径小
于100nm的ZnO纳米线具有显著的置子效廊。
关键词:ZnO纳米线.町控生长,紫外带边发光
I.引言
随着光电子信息存储、处理和通讯继续沿着高速度、太容量发展, 20世纪90年代中
期以来ZaSe.GaN、SiC以及ZnO等更宽带隙的化合物半导体材料及其在高频高功率电子
器件和短波段光电子器件的研究受到了重视.产业界将其称为第三代半导体一宽带隙半导
体。ZnO是I卜vl族直接带隙化合物半导体,熔点为19750C,室温F禁带宽度为3.37eV,
具有远大于室温离解能激子束缚能(60meV)。正是由于具有大的激子束缚能。从1997年
Ohtomo研究小组…报道ZnO外延薄膜的室温下激子激光实验以来,ZnO作为宽带隙半导体
在半导体光电子廊用研究领域此后逐渐受到关注.成为新一代宽带隙半导体材料。近十年来
人量研究结果表明.ZnO对于蓝光、紫光、近紫外波段的光电子器件是一种极具潜力的宽
带隙光电子半导体材料17.31.除了体ZnO半导体的特性,由于ZnO纳米线还具有量子限域、
天量的表面和界面特性等特有的介观物理性质。 ZnO纳米线在紫外激光、光致发光和场致
发射特性等方面具有体ZnO半导体所不具备的优良特性14J。最近的几篇报道I,16J显示了ZnO
纳米线在紫外发光二极管及白光二极管方面的应用潜力。由于ZnO纳米线的制备方法和所
得结构的多样性。ZnO一维纳米线的可控生长对其应用研究非常关键,本文对不同生长条
件下的ZnO纳米线形貌及其光致发光特性进行分析研究,希望得到ZnO纳米线的量化及其
形貌可控生长技术。并实现优良的紫外光电特性。
2.ZnO纳米线的合成及表征方法
采用锌粉的热蒸发氧化法进行ZnO纳米线的制备研究。为了抑制ZnO纳米线中的杂质
缺陷,采用99.999%的高纯锌粉作为蒸发源,将石英舟推入生长炉恒温区后,首先利用离纯
氧气对炉膛进行清洗.然后在常压F大约]00m]/min的氩气流的保护F加热到生长温度(犬
于锌粉的熔点).再通入60--90ml/min流量的氧气.锌蒸气氧化形成ZnO纳米线。常压下锌
粉热蒸发氧化法制各ZnO纳米线研究中,由于氩气流会将zn蒸气带走,为了得到大产额的
ZnO纳米线,可以在气流出口端通入氧气或者空气,这样很难对ZnO纳米线的生长温度及
其结构形貌进行控制PJ。为了实现特定生长温度下大产额的ZnO纳米线制备,我们采用了
一端盲口的石英舟,如图I所示,这样在蒸发源的上方及周围生长成向色絮状物。发现在
5500C-700。C的生K温度下通过控制生长时间就可以将蒸发源全部氧化:当生长温度小于
500。C时.生成物是明显的ZnO粉末;当生长温度人于750。C,由于锌蒸气在升温过程中
6460)对其形貌进行分析.利用波长
损失较多困而生成物较少.对生成物采用sEM(JSM
325nm的He.cd激光器(KIMMON)对其光致发光特性进行了测试分析。
第A埔中国纳米科技两安研讨会论文集
圈17.aO纳米线的生长系统示意图
利用上述方法.将硅片放置在蒸发源侧面或者倒扣在蒸发源上方可以实现硅基片上ZnO
纳米线的生长,但是Zn0纳米线在硅片上的附着力太差,对后续研究l=作带了困难。首先
在硅基片上溅射锌膜然后在高温下氧化形成厚度为90rim的ZnO纳米晶薄膜(透明),然后
利用ZnO纳米晶薄膜作为籽晶层,倒扣在蒸发源之上.升温到600。C在约20Pa氧气氛低压
生长条件下生长约20分钟,表面生长一层白色薄膜.黏附力很好。对所生长样品进行了SEM
(JSM6700F)分析和光致发光特性测试分析.
3.实验结
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