VLSI流水化格型数字滤波器的内建自测试.pdfVIP

维普资讯 第 l1期 电 子 学 报 V01．35 No．11 2O07年 11月 AL1lA眦 CrRoMCASINICA Nov． 2O VLSI流水化格型数字滤波器的内建 自测试 杨德才，谢永乐，陈光祸 (电子科技大学 自动化工程学院，四川成都 610054) 摘 要：格型数字滤波器在信号处理领域得到了广泛应用，本文针对VLSI实现的流水化格型数字滤波器，提出 了一种内建自测试方案，不需要对其内部基本功能单元作任何更改，且能在较短时间内检测所有的单固定型故障。所 有测试序列都采用简单的算术运算产生。通过对已有功能模块如累加器的复用，作为测试序列生成和响应压缩，该方 案能实现真速测试并最大程度的减少了硬件 占用和系统性能占用． 关键词： 内建 自测试 ；可测性设计；格型数字滤波器；伪穷举测试 中图分类号： TN407 文献标识码 ： A 文章编号： 0372—2112(2007)11-2184-05 Built--InSelf--TestforVLSIPipelinedLatticeDigitalFilter Y_M~GDe—cai，XIEY0ng—le，CHENGuang—ju (SchoolofAutomationEngineering，UniversityofElectronicSci~weandTechnologyofChina，Chengdu，Sichuan611X~54，Ch／na) Abstract： Latticedigi~ fliterchipsalewidelyusedinmanys~gnalprocessingapphcations．Weproposeabuilt-inself-test (BIST)schemeforVLSIpipelinedlatticedigitalfilterchipswhichneedsnomodificationofthebasicbuildingcellsandallthesin- glestuck-atfaultscanbedetectedinreasonabletime．Allthetestvectorscanbegeneratedby simplearithmeticoperation．By reusingavailablearithmeticfunctionunitssuchasaccumulatorst0generatetestvectorsandcompacttestresponses．suchschemecan beimplementedat-sv,~ withminimum hardwareoverheadandperformancedegraaation． Keywords： built-inself-test；designfortestability；latticedigitalfilter；pseudo-exhaustivetest 单固定型故障，以保证产品的最终质量和可靠性；(3)测 I 引言 试集大小适中，与滤波器的级联级数无关，测试时间较 格型数字滤波器因对有限字长的舍人误差不敏感、 少；(4)~Jl试硬件 占用少；(5)测试方案具有可移植性，减 具有模块化结构并易于 VLSI实现、特别适合于 自适应 少了测试开发成本 ． 滤波等独特优点而大量用于数字语音处理、自适应滤波 2 格型数字滤波器结构及测试原理 等方面_1J．随着半导体制造技术的快速进展，滤波器可