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第28卷第4期增刊 仪器仪表学报 V01．28NO．4
(、hinese ofscienti矗c AoL2007
2007年4月 Jou咖l Inst兀|ment
CMoS探测器在射线检测中的应用
孙朝明，李强，王增勇，李建文
(中国工程物理研究院机械制造工艺研究所绵阳621900)
摘要：以CMOs探测器为记录介质的数字化射线检测技术，检测精度高，温度适应性好，结构适应性强。cMos射线扫描
探测器探测单7i排成线阵列．需要在检测时进行相对扫描运动，逐线采集并拼成完整的透照投影图像。因此，进行了检测工
装设计，完成探测器的固定、位置调节及实现与检测工件的相对运动。介绍了检测应用中的各步骤包含探测器配置与校准、
台适透照方式选取、运动速度控制、检测参数优化、缺陷定量分析、图像存档管理等。应用结果表明经过工艺优化，c^螂探
测器能够实现大多数产品零部件的射线榆测。最后，分析了数字化射线榆测应用效果及有必要进行研究的几个问题。
关键词：cM0s探测器；数字化射线检测；工艺优化
of
direct CM()S linear detector
Application
radiographyusing X—ray array
Sun
Chaoming，LiQiang，WangZengyong，LiJianwe“
6朋90D，chi凇)
(胁z打“据o，M2曲iM。叫M口n“如以“帕IgTk^加￡og，，(1AE尸，M妇”婵”g
Abstract：Thedirect metaloxide linearar—
radiography(DR)usingcomplementarysilicon(CMOS)Ⅺray
detectorasrecordmediahasthe of
ray higher resolution，better
advantagesspatial temperatureadaptabm—
and
fle五blestructure movementofthedetectorand
ty adaptability．Duringradiographictesting，relative
thework is tocollecteachlineofthescanned
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testing designed
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to structure andcali—
moving pieceaccording testingprocedure
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