BIST 内建自测试.pptVIP

内建自测试（BIST） 主讲内容 BIST概念介绍 BIST测试向量生成 BIST体系结构 BIST应用举例 BIST介绍 BIST研究的提出：降低成本、可靠要求 BIST的概念：使用部分电路测试电路本身 BIST的分类： BIST介绍 TPG generates pseudo – random test vectors Input Isolation Circuitry isolates the normal system inputs from the CUT Output Response Analyzer performs polynomial division for test data compaction (signature analysis) BIST优点 减少输入输出引脚 可重复测试 不需要大量的测试图形产生 减少测试时间 执行全速测试 在生产时就执行测试 BIST带来的问题 面积开销 性能缺失 故障覆盖率 易于实现 支持系统级测试 提供诊断能力 BIST实现技术分类 基于存储向量的测试产生 微指令支持 测试向量存储在ROM中 硬件算法产生测试向量 计数器 线性移位反馈寄存器（LFSR) 细胞自动机（CA） LFSR（线性反馈移位寄存器） LFSR（线性反馈移位寄存器） 产生的函数可用下列多项式表示： 对于外接型电路，按下式生成