基于.NET 和 COM+ 的分布式考试系统的设计与实现.pdf

第18卷第7期 电子设计工程 2010年7月 V01．18 No．7 Electronic Jul．2010 DesignEngineering 董久敏．刘勇 (烟台职业学院信息工程系，山东烟台264670) 摘要：针对现行考试系统安全性不稳定，读写访问速度慢，并行处理能力差，数据库服务器负担集中、过重．同一考场 雷同题多等局限性，采用ASP．NET衣COM+等新技术，将持久层封装在COM+组件中。将不同的数据访问分散到几个 不同的数据库服务器中处理，通过COM+组件来访问分布式数据库。将耗费时间长但又不紧迫的写操作加入到 COM+队列中，采用遗传算法组题。应用表明：分布式考试系统具有安全、稳定、高速处理数据的能力．试题雷同率为 20％左右，同时克服了传统同类系统卡机、延时过长等缺点。 关键词：．NET架构；COM+；MTS；遗传算法 中图分类号：TP391．41 文献标识码：A andrealizationofdistributedtest basedon．NETandCOM+ Design system DONGJiu-rain，LIU Yong (DepartmentofInformationEngineering,YantaiProfessionco比鲈，Yantai264670,China) Abstract：Theexaminationhavesome such鹊unstable and existing systems disadvantages security．slowreadingwriting database tOO similartest at$￡lmeexaminationsite． access，poorparallel server,and processing，overloaded many questions othernew asolutiontothese ASP．NET，COM+，and provided Byusing technologies，thispaper problems．Thekeypoints included inthe differentdataaccessestoseveraldifferent layer encapsulatingpersistence COM+components，dispatching database thedistributeddatabaseservers the butnot through servers，accessing COM+components，puttingtime·consuming in the tomaketest showsthat operation urgentwriting COM+queue，andusi