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用同电离态离子的光谱线对测量等离子体离子温度.pdf
第 12 卷 第 3 期 强 激 光 与 粒 子 束 . 12, . 3
V o l N o
2000 年 6 月 H IGH POW ER LA SER AND PA R T ICL E BEAM S Jun. , 2000
文章编号: 1001—4322 (2000) 03—0351—04
用同电离态离子的光谱线对
测量等离子体离子温度
林晓东
(深圳大学师范学院物理教育系, 深圳 518060)
摘 要: 利用压电晶体驱动 干涉仪并选择合适的板距, 通过测量托卡马克等离子体
Fabry Pero t
同电离态杂质离子光谱线对的叠加轮廓分布, 给出对应的离子温度。该方法的优点是光谱分辨率高, 待
测谱线有更广泛的选择范围。
关键词: 干涉仪; 托卡马克等离子体; 离子温度
Fabry Pero t
中图分类号: 53, 434, 631. 2+ 4 文献标识码:
O O TL A
利用光谱法通过对线光谱的Dopp ler 展宽测量来计算离子温度已成为各托卡马克装置的常规诊断
手段。早期的测量主要是利用单色仪通过逐点扫描的方式来完成[ 1, 2 ] , 这种方法必须依赖于托卡马克的
连续重复放电, 因此存在较大的测量误差; 八十年代中期由于光学多道分析仪(OM A ) 的出现, 使得在单
次托卡马克放电中实现谱线轮廓的测量变得较为简单[ 3, 4 ] , 但受OM A 探测器场扫周期的限制, 要想获
得离子温度的动态变化信息仍然存在困难; 作者曾报道过利用压电晶体驱动的 干涉仪建
Fab ry Pero t
[ 5 ]
立起来的实验系统, 对上述问题的解决作了有益的尝试, 并且获得了成功 。
为了避免相邻谱线轮廓的相互影响, 一般认为利用光谱法测量离子温度需选择孤立谱作为测量对
象, 但由于托卡马克中的不同离子满足壳层分布规律, 这对了解尽可能多的壳层信息和离子温度的变化
梯度显然是不利的。本文提出: 利用压电晶体驱动 干涉仪, 通过选择合适的板距, 可以使两
Fab ry Pero t
条谱线不同级次的干涉环纹在环纹中心重合, 这样如果选择同电离态杂质离子的光谱线对作为测量对
象, 同样可以求出它们对应的离子温度。
1 测量原理
对于高温低密度托卡马克等离子体, 光谱线的加宽机制主要有 效应、 效应和
Dopp ler Stark
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